控制器型号
FBM160-0-AA0AA0B (0.0~99.9mg/L,接线G1/2, 50A)
BA0AA0B (0~999mg/L,接线G1/2, 50A)
CA0AA0B (0~9999mg/L,接线G1/2, 50A)
FBM100A-0-A0B (0.0~99.9mg/L,接线G1/2)
B0B (0~999mg/L,接线G1/2)
C0B < (0~9999mg/L,接线G1/2)
注)以上型号皆不含RS-232，如有其他要求，请另询。
浸没式安装-电极支架
HCD70C-3-400A010 (PVC材质, 长2m)
HCD70F-3-400A010 (PVDF材质, 长2m)
HCD76-3-400A010 (PP材质, 长2m)
注)支架长度另有0.5~4m可选，型号请另行洽询
流通式安装-流通池
HCD82-0-1B (SUS316材质, Rc1/2连接)
HCD86-1-11B (PP材质, Rc1/2连接)
HCD86-1-21B (PVC材质, Rc1/2连接)
氟离子选择电极
ELCP-81-5F (5米电缆) ELCP-81-10F (10米电缆)
备品备件
电极替换膜：7208L
氟离子标准液 (F-1000mg/L,500mL)：143F077离子强度
调节剂 (pH5-AB,500mL)： 143A053
产品名称：HSCA-2000 总硫分析仪
测量原理：能量色散法 X-射线荧光法（EDXRF）
X-射线荧光是由于原子内层轨道电子受到高能X-射线激发而产生的一种现象。当X-射线激发原子的内层电子
，使电子从内层逸出并在内层电子轨道产生空穴，这时原子会自于不稳定的高能状态。外层轨道的电子会向
内层的空穴迁移，迁移过程中会释放出能量，即产生X-射线荧光现象。所产生的X-荧光的能量，与原子结构
有关，对于特定的元素原子，采用特定能量的X-射线激发，会产生特征的X-荧光。
对于硫原子，其 K 层电子被激发而逸出，其L 层电子迁移到K 层，这个特定的X-射线荧光的能量主要是S-
Kα线，其能量为2.31keV，少量的是S-Kβ线，其能量为2.46keV。
与硫原子相近的元素原子的 X-射线荧光的能量列于下表：
元素 能量，keV（千电子伏特）
硫，S-Kα 2.31
氩，Ar-Kα 2.96
钛，Ti-Kα 4.51
铁，Fe-Kα 6.40
由于特征X-射线荧光的强度与样品中硫原子的数量成正比，这样通过测定样品的X-射线荧光，就可以直接检
测出样品中的硫含量。
详细说明：
本分析仪用于测定石油产品中的微量硫含量，包括汽油、石脑油、煤油和柴油。该分析仪可应用于石油产品加工及调合过程中过程控制和产品质量控制。
特点
●测定方法：能量色散型 X-射线荧光法（EDXRF），属于非破坏样品的分析方法
●无可动部件，不需要分光晶体等单色器部件，结构简单且易于维护
●取得日本 TIIS 防爆认证 Expd IIB T4
●测量范围为 0~10ppm 或0~500ppm
●采用 Windows XP 系统的工业计算机及触摸屏进行操作
●测 量 方 法 符合 GB/T 17040-2008 和 ASTMD4294-2003 的规定。
产品名称：纯水测定用pH
详细说明：
●流液分析用参比单元
FAR-201A/HSU-202
(测定主电极另售)
FAR-201A/GSU-202
(附带流通型pH玻璃电极)
● 如下图示，利用试剂泵抽取水样、压送参比液，在液络部混合。
因此，参比液不会被试样所污染，实现稳定的测量。
● 系统流路中始终充满水样，每次测定都能实现管路自清洗，无需保养维护。
产品名称：SSM-21P便携式表面盐分仪
详细说明：
用来检测船舶等钢材表面在涂装前的表面盐分浓度。
钢材在涂装前必须对表面进行清洗。为了防止盐分对金属的腐蚀，涂装前的清洁度是一项非常重要的指标。
SSM-21P可以吸附在船舶、桥梁、大型罐体等钢材表面，直接测量盐分浓度，且操作简单。使用SSM-21P，
不仅可以提高涂装前表面清洁度的评定可靠性，并且还可以使工作效率大幅提高。
特点
?以4种模式直接读取表面盐分浓度
显示水溶性盐浓度(PSPC对应)
显示水溶性盐浓度(依据ISO 8502-9的换算公式)
显示氯化钠浓度
显示电导率
?测定简单
将测量池固定于测量对象上，再注入纯水即可测得表面盐分浓度。不需要擦拭测定对象表面、以及抽出溶
液等繁琐的操作。
?测量池通过磁力固定
无需像bresle方法那样使用粘着剂，没有粘性物质残留污染测量表面。
?测量池小型质轻，便于携带
可选配收纳包、测定组件等，使现场的操作更为简便。
