详细介绍

QY-P-150M型平面干涉仪:专为计量级测试的需求设计，适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、长寿命氦氖激光器，1-6.7倍图像放大功能，高精度的成像系统和图像采集系统，精密平面标准镜等一系列高精技术，通过优化光学系统和机械系统结构，实现高精密平面光学元件的测量。选配静态，实现数字化测量。

QY-P-150S为QY-P-150M:的简化版本，适合光学车间的现场检验。

主要用途：平面类光学元件（包括玻璃、金属、陶瓷等）表面面形、光学平行度和材料均匀性的测试；准直系统波前质量的测试。 

仪器规格参数表