薄膜便携式测厚仪

产品用途

数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

技术指标

1.测量范围：（0-25）mm

2.分辨率：0.001mm

3.电源：氧化银电池SR44

4.工作温度：0℃～+40℃

5.储运温度：-20～+70℃

6.相对湿度：≤80%

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。

OXFORD-760台式测厚仪

OXFORD-760可用于测量铜和孔内镀铜的厚度，独特的设计探头使测量准确，不受板内层的影响。

OXFORD-760台式测厚仪铜和孔内镀铜的厚度，独特的设计探头使测量准确，不受板内层的影响。