简单介绍 日本日置IM3536 LCR测试仪介绍： LCR测试仪IM3536。IM3536具备4Hz~8MHz宽频率范围，实现高速、高精度测量。满足电子元件的研发和生产等多种领域的要求。 日本日置IM3536 LCR测试仪 的详细介绍 日本日置IM3536 LCR测试仪介绍： 测量参数
LCR测试仪IM3536。IM3536具备4Hz~8MHz宽频率范围，实现高速、高精度测量。满足电子元件的研发和生产等多种领域的要求。
日本日置IM3536 LCR测试仪介绍的特点
测量频率4Hz~8MHz，精度保证范围1mΩ和测量范围扩大
以往产品（3532-50）的测量带宽为42Hz~5Mhz，而IM3536的带宽扩大到了4Hz~8MHz。因此，可以测量用于各种领域中的电子元件的特性。特别是，最高频率8MHz适用于高频化的电源用电感的测量。
而且，精度保证范围比起以往产品10mΩ以上，IM3536的精度保证为1mΩ以上，因此也适用于有低频化要求的电容等的测量。
和以往产品相比，实现高速、高精度测量
IM3536和以往产品相比改善了测量时间和基本精度。
比起以往产品的测量时间为5ms（0.005秒），IM3536是1ms（0.001秒），测量速度提高了4倍。因此，用于电子元件的产线中时，有助于提高产量。
而且，相对于以往产品的基本精度（代表值）0.08%，IM3536为0.05%，因此适用于有高精度要求的电子元件。
连续测量功能，1台即可完成不同条件的检查
在电子元件的评估中，有时会需要对1个电子元件需要按照不同条件和项目来测量。以往产品因为测量条件的切换时间和测量时间较慢，所以这类多种条件检查会需要多台测量仪器。
IM3536的测量条件的切换和测量实现了高速化，而且IM3536具备连续测量功能（不同测量项目连续测量的功能），因此1台IM3536就可以完成以前多台测量仪器才能完成的测量。 这样，可以简化产线中所用自动检查机的结构，从而实现低价化。
具备提高检查品质的接触检查功能
检查时，发生测试探头的断线、和被测物的接触不良时，可能存在测量误差变大等影响测量值准确性的现象。为了防止此类事情，标配了能够知道测试探头断线和接触不良的接触检查功能。由此有助于提高检查的品质。
日本日置IM3536 LCR测试仪技术参数：测量模式 LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量） Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε 测量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定） 显示范围 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ） 测量频率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) 测量信号电平 [V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定DC偏压 发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) 输出阻抗 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω 显示 彩色TFT5.7英寸，触摸屏 功能 比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 接口 EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max 体积及重量 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg 附件 电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1 SMD测试治具IM9100 直接连接型，底部有电极SMD用，DC～8MHz，可测量样品尺寸：0402～1005（JIS） 4端子测试探头 9140 DC～100kHz, 1m长 测试治具9261-10 线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm 测试冶具 9262 DC～8 MHz, 直结型 SMD测试冶具 9263 直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm DC偏置电压单元 9268-10 直接连接型，40Hz~8MHz，最大外加电压DC±40V DC偏置电流单元 9269-10 直接连接型，40Hz~2MHz，最大外加电流DC 2A(最大外加电压DC±40V) 4端子探头 9500-10 线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm SMD测试治具9677 用于侧面有电极的SMD
DC~120MHz，测试样品
尺寸：3.5mm±0.5mmSMD测试治具9699 用于底部有电极的SMD
DC~120MHz，测试样品
尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下前端探针IM9901 用于更换L2001的前端的通用尺寸，L2001标配 前端探针IM9902 用于更换L2001的前端的小型尺寸 4端子探头L2000 DC~5MHz，1m长 镊形探头L2001 线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
电话: 0531-55504081
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