带有200x150mm的X-Y标准操作平台，可测量较大体积样品

在反射测量时，从两个方向呈45º照射，测定交叉点在两个光学轴上，使聚焦点更容易观察

用于对铅珊、电子部件、金属、建筑材料和精密设备的发光和反射密度(OD)的测量和控制，还可用于测量和控制印刷品和纸张等的反射密度(OD)和反射率

用于对铅珊、电子部件、金属、建筑材料和精密设备的发光和反射密度(OD)的测量和控制，还可用于测量和控制印刷品和纸张等的反射密度(OD)和反射率

通过滤光片快速测量三原色而不需接触样品，并且得到每种颜色的值(包括镀金金属)

可以在Y范围内测量反射密度，修正密度计算