主要特点和优点
- 一流的采样示波器，执行通信信号分析、TDR/TDT/
串行数 据网络分析及采集和测量重复的超快速信号
- 采集扩频时钟(SSC)信号
- 业内唯一支持最多8 条输入通道的主机，提高了灵活性 和吞吐量
- 四个颜色等级可变余辉波形数据库
- 支持100 多种自动测量的测量系统
- 完整的通信测量套件，包括OMA、SSC 曲线及其它类型 的测量
- 自动ITU/ANSI/IEEE 模板测试
- 内置SONET/SDH、FC、以太网和其它标准模板和测量 功能
- 可以从出厂时提供的文件中加载模板更新程序
- 模板余量测试，支持相邻频段产品的测试
- 采集模块采集模块
- 全面集成多速率光接口模块
- 高达80+ GHz 的80C10B 光接口模块
- 高精度“ER Calibrated”测量在部分模块中提供
- 电接口模块，带宽高达70+ GHz，测得上升时间5 ps (10-90%)
- 速率灵活的时钟恢复模块
- 时钟恢复，支持SSC (扩频时钟)
- 抖动、噪声、BER
和串行数据链路分析
- 测量并从随机抖动中隔离确定性数据相关抖动
- 测量垂直噪声，从随机噪声中隔离确定性数据相关噪声
- 非常准确的BER 和眼图轮廓估算，支持最新的DDPWS 和TWDP 测量
- FFE/DFE 均衡，发射机均衡
- 支持对>30 dB 的通道进行通道仿真
- 线性滤波器，支持夹具反嵌和线性滤波
- TDR
(时域反射计)
- 高达50GHz的TDR带宽，15 ps的反射上升时间，12 ps 的入射上升时间
- 最低的噪声，获得准确的可重复的TDR 测量结果- 在50 GHz 时为600 μVRMS
- 独立校正采样器偏移，保证简便地反嵌夹具和探头
- 业内唯一能够支持最多四对真正差分TDR 或电接口通道 的示波器，提高了系统通用性
- S
参数测量
- 高达50 GHz 的差分、单端、混合模式测量功能；及插入 损耗、回波损耗、频域串扰测量功能
- 对千兆位信号路径和互连进行PCI Express、串行ATA、 Infiniband、千兆位以太网制造测试和标准一致性测试， 包括眼图模板测试
- 直观、简便、准确，保证串行数据、千兆位数字设计和 信号完整性
- 使用命令行界面，快速准确地自动进行多端口S 参数测量
- 业内最优秀的标准时基抖动性能，800 fsRMS
- 业内领先的时基抖动性能：在相位参考模式下<200 fsRMS*1
- 快速采集速率，高吞吐量
- 真正的差分远程采样器，可以放在DUT 附近，实现杰出的 信号保真度
- FrameScanTM 采集模式，支持眼图平均功能： - 隔离数据相关问题 - 考察低功率信号
- MS Windows XP 操作系统
- 为第三方软件提供高级连接能力
Applications
- 设计/ 检验电信和数据通信元件和系统
- ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造测试或一致性测试
- 高性能真正差分TDR 测量
- 高级抖动、噪声和BER 分析
- 对串行数据应用进行阻抗检定和网络分析，包括S 参数
- 通道和眼图仿真，建立基于测量数据的SPICE 模型
*1 典型值，使用相位参考模块，适用一定的条件。如果没有这个模块， 抖动<800 psRMS (典型值)。
优异的性能，杰出的通用性
在开发当前高速串行设备时，DSA8200 数字串行分析仪采样 示波器为通信、计算机和消费电子千兆位发射机和信号路径检 定和一致性检验提供了用途最广泛的工具。由于杰出的带宽、 信号保真度和最强的可扩展模块化结构，DSA8200 为当前和 新兴串行数据技术提供了最高性能的TDR和互连分析能力，最 准确的信号损伤分析能力，及BER 计算能力。
DSA8200 拥有超低本底抖动，提供了无可比拟的测量系统保 真度，保证最准确地采集高速信号。相位参考模块200 fs 的采 集抖动，为您提供了高级分析能力。
多处理器结构及专用每插槽数字信号处理器(DSP)提供了快速 波形采集速率，降低了可靠的检定和一致性检验所需的测试时 间。
DSA8200采用通用的模块化结构，支持庞大的、且数量不断增 长的一系列模块插件，可以在测量系统中配置各种电接口、光 接口和配套模块， 最有效地满足当前和未来应用需求。 DSA8200 有6 个模块插槽，可以同时支持一个时钟恢复模块、 一个高精度相位参考模块和多个电接口或光接口采集模块，使 系统性能满足不断演变的需求。
这一系列电接口模块提供了业内领先的信号保真度，包括12 GHz 到70+ GHz 的带宽性能。在配备远程采样器时，两个真 正差分时域反射计(TDR)模块提供了高达50 GHz 的带宽、15 ps的反射上升时间和12 ps的入射上升时间。在配置远程采样 器时，低噪声可变带宽电接口模块系列提供了业内最优秀的噪 声性能，在60 GHz 时实现了450μVRMS 的噪声，在30 GHz 时 实现了300μVRMS 的噪声。
DSA8200光接口模块提供了完整的光接口测试解决方案，拥有 125 Mb/s - 43 Gb/s及更高的杰出的系统保真度。这些模块涵 盖了单模光纤和多模光纤广泛的波长。每个模块都可以选配大 量的数据速率、可以选择的滤波器/ 光学参考接收机(ORR)和/ 或完整的带宽路径。80C07B、80C08C 和80C11 可以配置大 量的灵活集成的时钟恢复选项。其通过80A05 或80A07 电接 口时钟恢复模块使用的电接口输出，支持80C12多速率模块时 钟恢复。
DSA8200流行的FrameScanTM采集模式可以与DUT、BERT和 其它信号源的码型一起使用，隔离发射机中的码型相关效应， 或显示模板违规前的码序列。FrameScan 自动进行时基定序， 以便按时序采集数据流的每个位。在与DSA8200 的模板测试 条件采集功能结合使用时，如命中模板后停止采集功能， FrameScan 可以自动识别哪个位发生了码型相关故障。
此外，支持单端和差分电接口时钟恢复、TDR 静电保护及连接 流行的TekConnect 探测系统等功能的专用模块，为您提供了 一流的探头性能，实现高阻抗和差分探测。另外还提供用于50 欧姆探测和TDR 探测的低阻抗探头。
抖动、噪声、BER 和串行数据链路分析
80SJNB 抖动、噪声、BER 和串行数据链路分析软件包为执行 串行数据链路分析及测量抖动和噪声提供了完善的软件。它还 内置基于(抖动和噪声)损伤的异常准确的BER估算功能，其精 度要高于简单的基于抖动的浴缸估算，同时它提供了BERT 上 没有提供的分析功能。
该软件中还以独一无二的方式提供了一流的FFE/DFE均衡、通 道仿真和夹具反嵌工具。在与DSA8200 的模块化灵活性、完 善的性能和无可比拟的系统保真度相结合时，这个串行数据链 路分析(SDLA)工具箱为验证和一致性测试下一代高速串行数据 设计提供了理想的解决方案。
如需更详细的信息，请参阅80SJNB 产品技术资料。
TDR (时域反射计)
DSA8200是业内性能最高的全面集成的时域反射计(TDR)测量 系统。由于其提供了带宽高达50 GHz 的真正差分TDR 测量功 能及15 ps 的反射上升时间和12 ps 的入射上升时间，您可以 满足当前最苛刻的串行数据网络分析(SDNA)要求。
新推出的80E10 和80E08 TDR 模块全面集成独立双通道2 米 远程采样器系统，最大限度地降低了夹具影响，保证最优秀的 系统保真度。独立采样器偏移校正保证快速简便地反嵌夹具和 探头。通过使用来自差分模块的TDR信号阶跃，驱动一对线路， 同时使用第二个差分模块监测第二对线路，用户可以检定差分 串扰。
TDR
和电接口模块及全面集成的远程采样器。
小型远程采样器可以放在DUT
附近，保证最优秀的信号保真度。
DSA8200是业内用途最广泛的TDR测量系统，可以容纳最多4 条双通道真正差分TDR 模块，快速准确地进行多路阻抗检定。
P80318 真正差分TDR 探头和P8018 单端无源手持式TDR 探 头为检定电路板阻抗和电信号提供了高性能探测解决方案。 P80318 是一种18 GHz 100 欧姆输入阻抗差分TDR 手持式探 头，可以对差分传输线进行高保真度阻抗测量。可调节的探头 尖间隔可以适应各种差分线路间隔和阻抗测量。P8018是一种 20 GHz 单端无源手持式TDR 探头。P80318 和P8018 都可以 作为独立式探头使用，同时它们是为与80A02一起使用、控制 EOS/ESD 保护而设计的。
千兆位信号路径检定和分析 - 串行数据网络分析 (SDNA)
在数字电路的时钟速度和上升时间提高同时，互连信号完整性 明显影响着数字系统性能。在时域和频域中，准确高效地对信 号路径和互连进行串行数据网络分析(SDNA)对预测信号损耗、 抖动、串扰、端接和振铃、数字误码和眼图劣化至关重要，以 确保系统可靠地运行。
泰克提供多个真正差分TDR模块，在与IConnect®软件结合使 用时，可以以高达-70 dB 的动态范围进行S 参数测量。这种 性能保证了在串行数据分析、数字设计、信号完整性和电接口 一致性测试应用中可以进行准确的可重复的测量。
下表汇总了在结合使用IConnect®和真正差分TDR模块时提供 的S 参数测量带宽性能。
TDR 模块 S 参数测量宽带性能
| 80E10 | 50 GHz |
| 80E08 | 30 GHz |
| 80E04 | 20 GHz |
由于长记录长度采集能力，IConnect® 为执行S 参数测量时获 得所需的频率范围和频率阶跃提供了巨大的灵活性。可以采集 最高1,000,000 点数据*2。
在DSA8200 中采用IConnect® 信号完整性TDR 和S 参数软件 时，您可以获得高效、简便易用、经济的解决方案，根据测量 数据评估多千兆位互连链路和设备的性能，包括信号完整性分 析、阻抗、S参数和眼图测试及隔离问题。IConnect®可以帮助 您在几分钟内、而不是在几天内完成互连分析任务，加快系统 设计时间，降低设计成本。IConnect® 还可以执行许多串行数 据标准要求的阻抗、S 参数和眼图一致性测试，对千兆位互连 进行全面通道分析、Touchstone (SnP)文件输出和SPICE 建 模。
*2 只有DSA8200, CSA8200, TDS8200, CSA8000和TDS8000平台上支持长记 录长度。
故障分析- 迅速识别问题位置
新推出的80E10提供了杰出的分辨率，可以在封装、电路板和 芯片故障分析应用中最快、最高效地隔离问题。
上海沿臻电子仪器有限公司主要经营射频、微波、光通信等高端进口电子测试仪器
主要经营以下项目：
销售/租赁/维修/保养/升级/校准/回收等，欢迎来电咨询!
联络人：聂欢 联系电话:13554769195
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