仪器介绍

 TEJDCS2851D介电常数及介质损耗测试仪，是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

TEJDCS2851D介电常数及介质损耗测试仪，是一种基于串联谐振原理工作的高频阻抗测量仪器,对电感器,电容器,绝缘材料等进行高频有效电感,Q值,电容值和Σ,tgδ测量

1 特点：
* 本公司创新的自动Q值读取技术，使测Q精度和速度大大提高。　
* 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。　
* 特制LCD屏菜单式显示多参数，Q值，测试频率，调谐状态等。　
* Q值量程自动/手动量程控制。　
* 数字化Q值予置，能提高批量测试的可靠性和速度。　
* VCO调节测试频率，其平滑的连续频率变化，能便捷的进行Δf测量Q值。

2 主要技术性能：　
2.1 工作频率范围：
    50kHz～50MHz,四位有效数显，分六个波段。　

2.2 Q值测量范围：
    10～1000，分10～100，30～300，100～1000三档。　

2.3 Q值固有误差：
    ±5%±3%满刻度值。　

2.4 有效电感测量范围：
    0.1μH～100mH。　

2.5 电感测量误差：
    ≤5%±0.02μH。　

2.6 调谐电容特性　
2.6.1 可调电容范围：
      40pf~500pf。　
2.6.2 精确度：
     ±1%或者1PF。　
2.6.3 微调电容:
     ±3pf可调，±0.2pf分辨率。　
2.6.4 残余电感值：
      约20nH。　

2.7 Q预置功能：
    预置范围：Q：10~1000均可。被测件达到预置值后有“GO”显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示“NO GO”。　

2.8 外形尺寸/重量：
    415×180×170（mm）,7kg。