捷扬光电 JFD-2000 非接触膜厚检测仪 测量塑料的PVC的厚度

由于软性透明的PVC 管状物体本身易被压缩的特性, 使用传统的接触方式进行量测將有较高的难度. 通过使用捷扬光电的JFD-2000 膜厚检测仪, 我们成功展现了测量該管状物管壁厚度的能力. 这种非接触式的光学测量方式针对各种透明基底及涂层(特别是各类曲面及高表面粗糙度樣品) 提供了快速而可靠的厚度测量方案.

捷扬光电 JFD-2000 膜厚检测仪参数

厚度范围：0.5-100 μm

光谱范围：200-1100 nm

精度：0.05 μm 或3%

分辨率：0.001μm

重复性：0.02 μm

重现性：0.05 μm

厚度单位：μm

重量单位：gsm

主控制箱尺寸：300x223x130 mm

主控制箱重量：6 kg

罐体检测箱尺寸：357x458x797 mm

罐体检测箱重量：35 kg

片状支架尺寸：φ200x214 mm

片状支架重量：1.5 kg

电源：220V/50Hz

数据输出：软件保存到数据库或RS232

输出样品尺寸：片状，直径大于10mm

供气：无

捷扬光电 JFD-2000 膜厚检测仪 有机发光膜的厚度检测

有机发光显示器正迅速从实验室转向大规模生产。明亮，超薄，动态的特性使它们成为从手机到电视显示屏的选择。组成显示屏的多层薄膜的精密测量非常重要，但不能用传统接触型的轮廓仪，因为它会破坏显示屏表面。我们的JFD-2000膜厚检测仪将提供廉价，可靠，非侵入测量原型装置和全像素化显示屏。我们的光谱仪还可以测量大气敏感材料的化学变化。

测量透明导电氧化膜

不论是铟锡氧化物，氧化锌，还是聚合物（3,4-乙烯基），我们独有的光学模型，加上可见/近红外仪器，可以测得厚度和光学常数，费用和操作难度仅是光谱椭偏仪的一小部分。

测量复杂的有机材料

典型的有机发光显示膜包括几层： 空穴注入层，空穴传输层，以及重组/发光层。所有这些层都有不寻常有机分子（小分子和/或聚合物）。虽然有机分子高度反常色散，测量这些物质的光谱反射充满挑战，但对捷扬光电的JFD-2000却不尽然。我们的材料数据库覆盖整个OLED的开发历史，能够处理随着有机分子而来的高折射散射和多种紫外光谱特征。

软基底上的薄膜

有机发光显示器具有真正柔性显示的潜力，要求测量像PET（聚乙烯）塑料这样有高双折射的基准，这对托偏仪测量是个严重的挑战： 或者模拟额外的复杂光学，或者打磨PET背面。 而这些对我们非偏振反射光谱来说都不需要，极大地节约了人员培训和测量时间。

操作箱中测量

有机发光显示器材料对水和氧极度敏感。 很多科研小组都要求在控制的干燥氮气操作箱中测量。 而我们体积小，模块化，光纤设计的仪器提供非密封、实时“操作箱”测量。

捷扬光电 提供 免费测试 - 一般 1-2 天得到结果。 联络 我们讨论您的测量需要。