HPS2526

精密方块电阻测试仪

    HPS2526精密方块电阻测试仪可方便地测量塑料薄膜、金属镀层方块电阻（每平方厘米电阻量值）的仪器。均匀金属薄层的厚度可用单位面积所体现的电阻表征，由于方阻与镀层厚度成反比，也就可以由方阻计算出镀层厚度。 仪器配有专用结构设计的四探针探头和面测夹具，使得测试时压力恒定，接触可靠，可更详细地分析薄膜金属化的质量。

性能特点

v 超大液晶人性化操作界面

v 点测和面测双模式兼容

v 测量数据自动保持功能

v 超快测量并显示读数

v 最高10档量程，手动和自动模式

v 档号显示及档计数功能

v 兼容各种不同材料，系数任意设定

v 完备的通讯接口可以与PC进行数据通讯及对仪器的远程控制

应用

l   塑料薄膜

l   金属镀层 

l   金属化薄膜电容器

技术参数