主要特点
采用英国RENISHAW测头可实现部分三维尺寸接触式测量、实现三维几何尺寸的测量。
影像+探针的测量方式 ,充分解决几何测量中的难题。
采用“HIWIN”P级直线导轨和精密V型滚珠导轨,保证机器精度及使用寿命。
立柱和底座采用坚实的花岗岩结构、稳定可靠。
配备SBK-EP多功能3D测量软件,自动寻边,程控光源。
配备可移动可拆卸的仪器专用桌。
高清卡位变倍镜头和高分辩率CCD,实现产品高清晰度测量。
测量结果可输出Word 、Excel、CAD等格式。
E P系列技术参数 |
型号 | EP200 | EP300 | EP400 |
测量范围(mm) | 200x100x200 | 300x200x200 | 400x300x200 |
外型尺寸(mm) | 750*1300*1500mm | 750*1300*1500mm | 900*1400*1500mm |
重量(kg) | 160 | 170 | 250 |
承重(kg) | 20 | 25 | 25 |
测量精度(μm): 3+L/200
重复精度(mm):0.003
测量方式:影像+探针
光栅尺: 1.0μm分辩率开放式玻璃光栅尺
图像传感器CCD: SBK-HC536 1/3英寸600线工业彩色相机
导轨: Z轴:“HIWIN”P级直线导轨 X、 Y轴:精密V型导轨
光学系统: 6.5:1连续变倍卡位镜筒
放大倍率: 光学放大倍率:0.7-4.5X;影像放大倍率:24-158X
软件: SBK-EP手动3D测量软件
轮廓光源系统: LED冷光源,256级亮度程控可调
表面光源系统:48颗LED冷光源,256级亮度程控可调
数据控制: SBK-3000专用数据控制器、USB接口、软件调节光源亮度
测头系统:英国“RENISHAW”MCP测座
操作方式: 手动