扫描电子显微镜及能谱分析仪应用于各种材料的常规形貌观察，热场发射肖特基电子枪，束流大且稳定，可获得高质量的高分辨二次电子图像，可实现对材料断口、粒径及孔径的测量，附件能谱仪可实现对各类样品的成分定性及半定量分析及对样品组分的面分布测试。可实现对金属、纳米颗粒和粉末、多孔物质、电子器件、陶瓷、有机高分子材料、晶体材料、各类薄膜纤维材料、分子筛催化剂及处理固定好的生物细胞材料的测试分析。

启威测材料测试平台提供以下服务（现场测试和委托测试）：

1、可测试的材料：金属材料、无机非金属材料、聚合物复合材料；

 2、材料微观形貌和成分分析：SEM  EDS测试

 3、材料导热系数、热机械性能分析；

 4、材料粒度、密度、接触角、比表面积等物理性能表征；

 5、材料光谱吸收特性分析。

测试优势：
a.        低加速电压下具有较高的分辨率，能够直接观察不导电及热稳定性差材料的精细结构，无需样品前处理（喷金、喷炭等）。
b.        测试速度快，直接预约测试，无需排队，收到样品后两个工作日内出结果。

仪器测试收费标准：
报价（元/样品）        市场价
形貌测试               300
能谱分析               200

其中点分析,线分析,面分析不重复收费

 测试速度快，直接预约测试，无需排队，收到样品后两个工作日内出结果。

场发射扫描电子显微镜和能谱仪设备参数：

高真空成像分辨率：

1.0 nm @ 15 kV (SE)

1.4 nm @ 1 kV (SE)，无射束减速

电子束参数范围：

射束着陆能量：50 eV - 30 keV

探针电流：0.6 pA - 200 nA（可持续调节）

最大水平视场宽度：4.0 mm @ 5 mm WD

能谱参数：

探测面积:50mm2

输入计数率>500,000cps

采集计数率>200,000cps

Mn Kα 典型分辨率<125eV，C Kα<48eV

可实现对样品成分的点分析，线分析，面分析。采集二次电子、背散射电子等信号对各种固体材料进行的微观形貌分析，用于对材料微区成分元素种类与含量分析。