本公司主要生产销售微波暗室，本公司的矩形微波暗室与锥形微波暗室、屏蔽室,是微波暗室产品的供应商之一。

产品特点：FAC是CISPR16-1-4定义为“无地”的试验场。在一个囊比较（半消声室）它不仅意味着墙壁和天花板内衬材料，而且地板。FAC的优势主要是，思考，从地板上不能发生，因此天线高度扫描不再是必要的，可以节省大量的时间测量。然而，特殊的结构将是必要的（因为与地板吸收剂衬里）为特别重大EUT´S.测试设置。

　微波暗室的电性能指标主要由静区的特征来表现的。静区的特性又以静区的大小、静区内的最大反射电平、场均匀性、路径损耗、工作频率范围以及固有雷达截面等指标来描述。

　　影响微波暗室性能指标的因素是有很多种的，且复杂。在利用能量物理法和光线发射法对暗室性能进行仿真计算时，需要考虑电波的极化去耦，传输去耦，标准天线的方向图等因素，吸波材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影响。但在实际的工程设计过程中，往往以吸波材料的性能作为暗室性能的关键决定因素：

　　1.场均匀性：在静区的截面上，横向和上下移动待测天线，要求接收信号起伏不超过±0.25dB。在暗室静区，沿轴移动待测试天线，要求起伏不超±2dB。

　　2.交叉极化度：由于暗室结构的不严格对称、暗室测试系统以及吸波材料对各种极化波吸收的不一致性等因素致使电波在暗室传播过程中产生极化不纯的现象。若待测试天线与发射天线的极化面正交和平行时，所测试场强之比小于-25dB，就认为交叉极化度满足要求。

　　3.多路径损耗：路径损耗不均匀会使电磁波的极化面旋转，如果以来波方向旋转待测试天线，接收信号的起伏不超过±0.25dB，就可忽略多路径损耗。