| 选购品 |
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| ESP探头 MCP-TPO8P《四探针探头》
不均一样品用
Pin间 5mm，Pin尖 Ø 2×4支，压力 240g/支，
尺寸 35W×20L×35Hmm |
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| PSP探头 MCP-TPO6P《四探针探头》
小样品或薄膜用
Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支，
尺寸 Ø 10-20× L112mm |
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| QPP探头 MCP-TPQPP《四探针探头》
微小样品用
Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支，
尺寸 Ø 10-20× L112mm |
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| NSCP探头 MCP-NSCP《四探针探头, 特殊用探头》
Silicone wafer用
Pin间 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，压力 250g/支 |
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| BSP探头 MCP-TPO5P《四探针探头, 特殊用探头》
大样品用
Pin间 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支 |
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| TFP探头 MCP-TFP《四探针探头, 特殊用探头》
Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用
Pin间 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，压力 50g/支 |
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| AP探头 MCP-TPAP《二探针探头》
标准样式
Pin间 10mm，Pin尖 Ø 2×2支，压力 240g/支 |
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| BP探头 MCP-TPBP《二探针探头》
大样品用
Pin尖 Ø 2×2支，压力 240g/支 |
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| MCP-TRF1探头检验片
ASP, ESP探头用 (探头检验片于测定前检查之) |
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| MCP-TRPS 探头检验片
PSP探头用 (探头检验片于测定前检查之) |
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| MCP-TRTF 探头检验片
TFP, NSCP探头用 (探头检验片于测定前检查之) |
