特色： 维持安定之高质量，依据世界唯一之四探针理论之高精度之阻抗率计
操作简单，现场使用携带型方便，用于生产技术、质量管理
测定范围： 10-2～106Ω
资料输出： USB Memory
体积： 约 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g
标准配备
ASP探头 MCP-TPO3P《四探针探头》
利用价值广泛标准探头JIS K7194对应，
Pin间 5mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支，
尺寸 35W×20L×35Hmm
MCP-TA06 充电器
选购品
ESP探头 MCP-TPO8P《四探针探头》
不均一样品用
Pin间 5mm，Pin尖 Ø 2×4支，压力 240g/支，
尺寸 35W×20L×35Hmm
PSP探头 MCP-TPO6P《四探针探头》
小样品或薄膜用
Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支，
尺寸 Ø 10-20× L112mm
QPP探头 MCP-TPQPP《四探针探头》
微小样品用
Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支，
尺寸 Ø 10-20× L112mm
NSCP探头 MCP-NSCP《四探针探头, 特殊用探头》
Silicone wafer用
Pin间 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，压力 250g/支
BSP探头 MCP-TPO5P《四探针探头, 特殊用探头》
大样品用
Pin间 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支
TFP探头 MCP-TFP《四探针探头, 特殊用探头》
Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用
Pin间 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，压力 50g/支
AP探头 MCP-TPAP《二探针探头》
标准样式
Pin间 10mm，Pin尖 Ø 2×2支，压力 240g/支
BP探头 MCP-TPBP《二探针探头》
大样品用
Pin尖 Ø 2×2支，压力 240g/支
MCP-TRF1探头检验片
ASP, ESP探头用 (探头检验片于测定前检查之)
MCP-TRPS 探头检验片
PSP探头用 (探头检验片于测定前检查之)
MCP-TRTF 探头检验片
TFP, NSCP探头用 (探头检验片于测定前检查之)
