表面异物分析

在生产使用过程中，产品表面往往容易被污染、腐蚀、氧化，形成其他异物，一般很难用肉眼分辨，更无法了解其成分与来源，必须通过显微途径观察分析。中心配备有显微红外、放大倍数从10倍-20万倍的扫描电子显微镜和对固体样品元素价态分析的X射线光电子能谱，可以分别对不同现象和类别的异物进行分析。扫描电子显微镜可在分子尺度，对材料微观形貌进行直接观测，同时对微小区域进行X射线能谱测试，分析其成分组成，X射线光电子能谱能够对固体样品的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析，广泛应用于元素分析、多相研究、化合物结果鉴定、富集法微量元素分析、元素价态鉴定等。

 

       主要分析仪器：

显微/傅里叶红外光谱仪(FTIR)、扫描电子显微镜/X射线能谱仪(SEM/EDS)、X射线光电子能谱仪(XPS)、二次离子质谱(SIMS)、X射线衍射仪(XRD)等。

 

       主要测试项目：

无机异物分析

有机异物分析

异物源头判定