CMM三次元测头

CMM测头的发展有悠久的历史，最早可追溯到上世纪20年代电感测微仪的出现；但真正快速发展却得益于上世纪50年代末三坐标测量机的出现。迄今，三次元测头通常分为接触式测头与非接触式测头两种，其中接触式测头又分为机械式测头、触发式测头和扫描式测头；非接触式测头分为激光测头和光学视频测头。

三次元测头系统是由测头及其附件组成的系统,CMM测头是三坐标测量机探测时发送信号的装置,它可以输出开关信号,亦可以输出与探针偏转角度成正比的比例信号。CMM三次元测头精度的高低很大程度上决定于测量机的测量重复性与精度。不同零件需要选择不同功能测头的测量。三坐标测量机是一种典型的精密量仪，其发展历史也表明，只有在精密的三次元测头为坐标测量机提供新的触测原理、新的测量精度后，三坐标测量机才能发生一次根本的变化。换言之,CMM三次元测头是限制精密量仪精度和速度的主要因素，三次元测头性能是否优异直接影响着精密量仪的测量精度、工作性能、使用效率和柔性程度.精密量仪能否满足现代测量要求也依赖于CMM测头系统的不断创新与发展。