TH2826/TH2826A 型高频LCR数字电桥
性能特点
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国内首台符合LXI标准的LCR表
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测试频率20Hz～5MHz，10mHz步进
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测试电平10mV～5V, 1mV步进
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基本准确度0.1%
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最高达200次/s的测量速度
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320×240点阵大型图形LCD显示
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五位读数分辨率
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可测量22种阻抗参数组合
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四种信号源输出阻抗
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10点列表扫描测试功能
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内部自带直流偏置源
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外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
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电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
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V、I测试信号电平监视功能
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图形扫描分析功能
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20组内部仪器设定可供储存/读取
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内建比较器,10档分选及计数功能
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多种通讯接口方便用户联机使用
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2m/4m测试电缆扩展(选件)
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中英文可选操作界面
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可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
简要介绍
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TH2826系列元件测试仪是国内首台符合LXI标准的新
一代阻抗测试仪器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz
的频率范围可以满足元件与材料绝大部分低压参数的测量
要求，可广泛应用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷
电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电
气性能的分析及低ESR电容器和高Q电感器的测量。
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TH2826系列产品超高速的测试速度使其特别适用于
自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等
等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家
的不同标准需求。
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TH2826系列产品以其卓越的性能可以实现商业标准和
军用标准如IEC和MIL标准的各种测试。
广泛的测量对象
无源元件：
电容器、
电感器、
磁芯、
电阻器、
压电器件、
变压器、
芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：
变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路
的寄生参数分析
其它元件：
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻
抗评估
介质材料：
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗
角评估
半导体材料：
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：
液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
TH2826/TH2826A
技术参数
测试参数
C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
测试频率
TH2826
20 Hz～5MHz,10mHz步进
TH2826A
20 Hz～2MHz,10mHz步进
测试信号电
平
f≤1MHz
10mV～5V,±
（10%+10mV）
f
1MHz
10mV～1V,±
（20%+10mV)
输出阻抗
10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本准确度
0.1%
显示范围
L
0.0001 uH ～ 9.9999kH
C
0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR
0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
Y, B, G
0.0001 nS ～ 99.999 S
D
0.0001 ～ 9.9999
Q
0.0001 ～ 99999
θ
-179.99°～ 179.99°
测量速度
快速: 200次/s
（
f﹥30
kHz
）
,100次/s
（f﹥
1
kHz
）
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校准功能
开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准
等效方式
串联方式, 并联方式
量程方式
自动, 保持
显示方式
直读, Δ, Δ%
触发方式
内部, 手动, 外部, 总线
内部直流偏
置源
电压模式
-5V ～ +5V,
±(10%+10mV), 1mV步进
电流模式（内
阻为50Ω）
-100mA ～ +100mA,
±(10%+0.2mA),20uA步进
比较器功能
10档分选及计数功能
显示器
320×240点阵图形LCD显示
存储器
可保存20组仪器设定值
接口
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
LAN(LXI class C support)
RS232C
HANDLER
GPIB（选件）
