IM7583阻抗分析仪
IM7583阻抗分析仪，阻抗分析仪能在阻抗范围和宽频率范围进行测量，它利用物体具有不同的导电作用，在物体表面加一固定的低电平电流时，通过阻抗计算出物体的各种器件、设备参数和性能优劣。日置阻抗分析仪IM7583高速、高稳定性测量，提高生产量。日置HIOKI电学测试产品是本公司强项品牌，价格非常有优势欢迎询价！
IM7583阻抗分析仪
一、高速、高稳定性测量，提高生产量！
1、测量时间：最快0.5ms
2、测量频率：1MHz~600MHz
3、测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间)
4、基本精度：±0.65% rdg
5、紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
6、丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
7、使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
8、主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具
二、基本参数：
三、阻抗分析仪IM7580系列产品功能：
（1）等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
（2）使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz?3GHz。和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。
（3）区域判定功能：
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。
（4）峰值判定功能：
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
（5）SPOT判定功能：
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。:“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，最多进行16点的判定。
（6）比较器功能：
使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。:适用于判定样品是否合格的功能。
（7）接触检查功能：
使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。
（8）测试头的连接方法
测试头的连接线连接阻抗分析仪。稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N?m）。请注意不要拧过头。
四、主要用途：
1、电子元件生产厂家内的电子元件的出货检查和特性评估
2、电子设备生产厂家内的电子元件的验货检查和特性评估
3、高校研究所内的电子元件的特性评估
