老化测试系统可归为两大类：逻辑器件和存储器。逻辑器件测试系统又可分为两类：并行和串行；同样，存储器测试系统也可分为两类：非易失性和易失性。

存储器老化

存储器老化和测试的线路实现起来相对简单一些，所有器件通过统一方式写入，然后单独选中每个器件，将其存入的数据读出并与原来的值对照。由于具有控制和数据采集软件以及故障数据评估报告算法，所以存储器老化测试对生产商非常有用。

大多数存储器件支持多个选通引脚，因而老化测试系统采用簇方式读回数据。某些系统具有很宽的数据总线，每一簇可同时读取多个器件，再由电脑主机或类似的机器对器件进行划分。增加老化板上的并行信号数量可提高速度，减少同一条并行信号线所连器件数，并且降低板子和器件的负载特性。

老化房/结构特征：

   老化房是一专业设备，在容量及规格的设计必须满足当前各类产品的需求下，也必须保证自身工作的稳定性，因此它必须是高质量、安全可靠的，同时面临未来市场快速增长的发展需求，它应是灵活的、开放的、具备一定的可扩展性。在设计时遵循了以下设计原则：

1、老化房实用性、稳定性和先进性：

采用先进成熟的技术和设备，满足客户当前的需要，并兼顾未来产品的需求，尽可能的采用最稳定、最实用的组件和材料。

2、老化房安全、可靠性：

采用老化过程异常双报警系统（声、光），充分保护产品及周边环境设备的安全。

老化房/设备用途：

     该老化房主要是针对汽车电子、通讯产品、PCB、消费电子等产品老化的寿命测试；电脑板、接口卡、插卡、手机电源产品的老化测试；高速公路报警电话、安防产品的烧机；需要经过集装箱海运出口的产品老化（模拟集装箱内的高温环境）

半导体器件损坏的特点

二、三极管的损坏一般是PN结击穿或开路，其中以击穿短路居多。此外还有两种损坏表现：一是热稳定性变差，表现为开机时正常，工作一段时间后，发生软击穿；另一种是PN结的特性变差。

电解电容损坏的特点及检测方法

1.电解电容的检测方法

因为电解电容的容量比一般固定电容大得多，所以，测量时，应针对不同容量选用合适的量程。根据经验，一般情况下，470nF-—10μF间的电容，可用R×1k挡测量；10μF—300μF的电容可用R×100挡测量；300 μF以上的电容可用R×1或R×10挡测量。