1、外形尺寸：1800L*650W*1800H(MM)（可根据客户实际需求定制）

2、适用产品：各类电子产品电源、路由器、CD-ROM、DVD-ROM、电度表等，几乎可以涵盖所有电子产品

3、测试数量：根据不同产品大小、功率相应的增减数量，常规数量有：24、48、96、120PCS等

4、AC电压：外部可输入电压规格AC90V、110V、220V、264V等电压，可实现手、自动切换电压

5、时序控制：可自由设定总时间、AC或DC的ON/OFF冲击测试

6、负载类型：可安装电阻式、电子式、回馈式负载等

7、监控：可根据产品选配

二、优点

1、轻便灵活可根据实际使用空间自由移动测试位置

2、快速更换电子负载等

3、检修、维护简便

4、调整定时、电压冲击测试方便快捷

5、台车可用方管烤漆、铝剂型材、不锈钢材料制成

6、具有缺相、过压保护、定时提醒等功能

老化房功率单元设计中，为了确保装置的可靠性，采用大裕量设计，降低了关键功率器件的温升。

?? 直流主回路功率器件电流容量4倍于额定容量；

?? 交流回路功率器件电流容量5 倍于额定容量；

?? 加大了散热器尺寸，在45度工作环境且满载情况下，测试功开关率管与磁性元件的温度为87℃；

?? 采用铜汇流排的主回路结构设计；

?? 多风机强制风冷散热；

采用这种方法时，JTAG测试端口和整个系统必须要设计到器件的内部。器件上用于JTAG测试的电路属于专用测试口，用来对器件进行测试，即使器件装在用户终端系统上并已开始工作以后，该测试口还可以使用。一般而言，JTAG端口采用很长的串联寄存器链，可以访问到所有的内部节点。每个寄存器映射器件的某一功能或特性，于是，访问器件的某种状态只需将该寄存器的状态数据串行移位至输出端即可。

采用同样技术可完成对器件的编程，只不过数据是通过JTAG端口串行移位到器件内部。IEEE 1149.1的说明里详细阐述了JTAG端口的操作。