HPF系列微型光纤光谱仪用于荧光检测和薄膜厚度的检测

荧光测量的光信号一般比较微弱，需排除激发光对测试结果的影响，因此一般采用大狭缝、灵敏的探测器和高效率的滤光片。标准的激发光源采用脉冲氙灯或激光。

薄膜厚度测量系统测量的数据是样品对不同波长反射率曲线，这样就可以在已知薄膜厚度、折射率二者之一的情况下推导出另一者。

捷扬光电HCE系列微型光谱仪测量物质的纯度

捷扬光电的HCE系列光谱仪在测量紫外吸收光谱方面有广泛的应用，紫外吸收光谱能测定化合物中含有微量的具有紫外吸收的杂质。如果一个化合物在紫外可见光区没有明显的吸收峰，而其的杂质在紫外区有较强的吸收峰，就可检出化合物中所含有的杂质（乙醇/苯，苯 λmax=256nm）。如果一个化合物在紫外可见光区有明显的吸收峰，可利用摩尔吸光系数（吸光度）来检查其纯度。

捷扬光电的HCE系列由于其高性价比和良好的稳定性，非常适合大批量OEM客户进行集成测量紫外吸收光谱。

公司地址：东莞市东城区主山上三杞工业大道立洲科技园3号楼

HPF系列光纤光谱仪的应用范围

HPF系列最短是积分时间为4.2ms，可以应用在需要高灵敏度、良好紫外响应和大动态范围的应用领域。其定位是“科学级”光谱仪，其适用于荧光测量、拉曼光谱、DNA测序、天文学、和长积分时间等实验。

    通常使用的光学系统有：溶液吸光度、上升流/下降流、氧传感、气体吸收率、荧光测量、LED分析、激光分析、激光诱导击穿光谱(LIBS)、膜厚测试、UV-VIS反射测量、反射颜色测量系统。

    一般光学系统由激发光源、光纤、样品架、光谱仪、数据处理系统等组成，每个部件的选择都可能对系统整体的的测量范围和精度有很大影响，可以根据实际需求进行搭配以获得最符合客户需求的光谱系统配置。例如测量强光强时采用余弦校正器以减弱光强，工作波段位于紫外时采用紫外波段的光源和光谱仪。