首先是陶瓷本体问题-开裂或微裂，这是最常见的问题之一。开裂现象较显着，而微裂一般出在内部，不容易观察到，涉及到片状电容的原料、加工工艺和片状电容运用过程中的机械、热应力等效果因素影响。

其次是片状电容电功能问题。片状电容运用一段时间后呈现绝缘电阻下降、漏电。

以上两个问题往往同时发生，互为因果关系。电容器的绝缘电阻是一项重要的参数，衡量着工作中片状电容漏电流大小。漏电流大，片状电容贮存不了电量，片状电容两端电压下降。往往因为漏电流大导致了片状电容失效，引发了对片状电容牢靠性问题的争论。

东莞市正刚鑫电子科技有限公司成立于2007年，前身有十年的发展历史的东莞市正刚电子有限公司。致力于专业被动元器件供应链服务商，研发、制造和服务，在MLCC、领域提供从技术到产品的一站式解决方案。可靠的品质、丰富的产品线、合理的价格、适当的交期、优质的服务、专业的技术支持使我们赢得了海内外广大客户的支持。

MLCC產品容值偏低現象

针对常常有客户问及容值偏低的问题，本文从仪器差异、测验环境、测验条件、资料老化等方面对此作出完好之阐明及解说,以期对MLCC产品容值偏低现象有进一步的知道。

量测仪器差异对量测成果之影响.

高容量的电容量测时更易有容值偏低现象，首要原因是电容两头之实践施于电压无法到达测验条件需求所致，也就是说加在电容两头的电压因为仪器自身内部阻抗分压的原因与仪器显现的设定电压不同。为使量测成果差错降至最l低,主张客戶将仪器調校並儀器的设定电压与实践在产品两头所测之电压尽量调整,使实践于待测物上之輸出电压共同.

东莞市正刚鑫电子科技有限公司成立于2007年，前身有十年的发展历史的东莞市正刚电子有限公司。致力于专业被动元器件供应链服务商，研发、制造和服务，在MLCC、领域提供从技术到产品的一站式解决方案。可靠的品质、丰富的产品线、合理的价格、适当的交期、优质的服务、专业的技术支持使我们赢得了海内外广大客户的支持。

MLCC的使用及开展方向:            

MLCC，广泛用于消费、通讯、信息类电子整机设备中，首要起到滤波、隔直、耦合、 振动等效果。跟着电子信息产业的不断开展，电子设备向薄、小、轻、便携式开展，MLCC也逐渐向小型化、大容量化、高频率方向开展，MLCC在我们的HID及高l端平板电视里有着极为宽广的使用，片式电容是增长速度最快的无源电子元器件之一，具有宽广的开展前景。

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