用户体验测试：

从终端消费者需求与消费习惯出发，以满足用电电器的设计要求为宗旨，对电池进行应用性测试，持续提供电池后续改进建议，并为客户提供的产品成本解决方案.

（2）可靠性测试：

容量测试，恒定湿热测试，倍率放电测试，高温放电测试，低温放电测试，荷电保持及容量恢复测试，循环寿命测试，85℃储存测试

（3）安全性测试：

热冲击测试，短路测试，针刺测试，挤压测试，重物冲击测试，自由跃落测试，振动测试，过充测试，高低温循环测试，高空模拟测试。

半导体器件损坏的特点

二、三极管的损坏一般是PN结击穿或开路，其中以击穿短路居多。此外还有两种损坏表现：一是热稳定性变差，表现为开机时正常，工作一段时间后，发生软击穿；另一种是PN结的特性变差。

电解电容损坏的特点及检测方法

1.电解电容的检测方法

因为电解电容的容量比一般固定电容大得多，所以，测量时，应针对不同容量选用合适的量程。根据经验，一般情况下，470nF-—10μF间的电容，可用R×1k挡测量；10μF—300μF的电容可用R×100挡测量；300 μF以上的电容可用R×1或R×10挡测量。

老化板互连性、PCB设计以及偏置电路的复杂性。老化测试系统可能被有些人称为高速测试，但是，如果机械连接或老化板本身特性会削弱信号质量，那么测试速度将会是一个问题。如像过多机电性连接会增大整个系统的总电容和电感、老化板设计不良会产生噪声和串扰、而很差的引脚驱动器设计则会使快速信号沿所需的驱动电流大小受到限制等等，这些都仅是一部分影响速度的瓶颈，另外由于负载过大并存在阻抗、电路偏置以及保护元件值的选择等也会使老化的性能受到影响。