MLCC產品容值偏低現象

针对常常有客户问及容值偏低的问题，本文从仪器差异、测验环境、测验条件、资料老化等方面对此作出完好之阐明及解说,以期对MLCC产品容值偏低现象有进一步的知道。

量测仪器差异对量测成果之影响.

高容量的电容量测时更易有容值偏低现象，首要原因是电容两头之实践施于电压无法到达测验条件需求所致，也就是说加在电容两头的电压因为仪器自身内部阻抗分压的原因与仪器显现的设定电压不同。为使量测成果差错降至最l低,主张客戶将仪器調校並儀器的设定电压与实践在产品两头所测之电压尽量调整,使实践于待测物上之輸出电压共同.

东莞市正刚鑫电子科技有限公司成立于2007年，前身有十年的发展历史的东莞市正刚电子有限公司。致力于专业被动元器件供应链服务商，研发、制造和服务，在MLCC、领域提供从技术到产品的一站式解决方案。可靠的品质、丰富的产品线、合理的价格、适当的交期、优质的服务、专业的技术支持使我们赢得了海内外广大客户的支持。

从上一年开端，一系列电子元器件呈现了缺货的现象，如显示屏、闪存、手机主芯片等，进入2017年，缺货提价依然是主旋律，一些被迫组件也相继提价。那么，作为被迫元件之一的贴片电阻会呈现缺货吗？

“实际上2016年末时贴片电阻就已开端缺货。这是由汽车和工业商场引起的，后来也波及到分销途径。” 谭世棋称，厚声贴片电阻原厂两年前就预见到这种状况，其时现已开端扩展产能并优化了一些生产线。

东莞市正刚鑫电子科技有限公司成立于2007年，前身有十年的发展历史的东莞市正刚电子有限公司。致力于专业被动元器件供应链服务商，研发、制造和服务，在MLCC、领域提供从技术到产品的一站式解决方案。可靠的品质、丰富的产品线、合理的价格、适当的交期、优质的服务、专业的技术支持使我们赢得了海内外广大客户的支持。

片状电容在该过程中遭到热和机械应力的效果，严峻时呈现瓷体开裂现象。若片状电容遭到的热和机械应力挨近临界时，则不呈现显着的开裂现象，而是表现为内部裂纹的呈现或内部微裂纹的发生。用烙铁补焊时，显着裂纹则表现为开裂，微裂纹大多数表现为电功能康复正常，漏电现象消失，但时刻一长，片状电容可靠性差的缺点就表现出来。

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