19世纪30年代，世界上出现了第1台高温老化房，它的诞生为高温老化房的发展奠定了历史性的基础，上世纪五十年代未期，日本高温老化箱制造厂商已发展到约20家

　　近年来，出现了各类不同样式的高温老化箱出现，他们都是台高温老化试验箱的扩展与创新版。

　　无论哪种类型的试验箱，都带有控制系统，高温老化箱也不例外，它无论在结构上还是控制系统上，都不断的在向精简化，智能化靠拢，

　　七十年代初，我国的高温老化箱的机构不断壮大，其研发团队也在不断扩大，无论在设计上还是制造上都有了一定的成果。

　　生产的高温老化箱品种已达到几十种。除了一般用的湿热箱、日照箱和盐雾箱等摸拟单项环境条件的标准产品外，综合气候老化试验箱以及温度、湿度、低气压和振动四因素环境试验箱等

老化房功率单元设计中，为了确保装置的可靠性，采用大裕量设计，降低了关键功率器件的温升。

?? 直流主回路功率器件电流容量4倍于额定容量；

?? 交流回路功率器件电流容量5 倍于额定容量；

?? 加大了散热器尺寸，在45度工作环境且满载情况下，测试功开关率管与磁性元件的温度为87℃；

?? 采用铜汇流排的主回路结构设计；

?? 多风机强制风冷散热；

老化板互连性、PCB设计以及偏置电路的复杂性。老化测试系统可能被有些人称为高速测试，但是，如果机械连接或老化板本身特性会削弱信号质量，那么测试速度将会是一个问题。如像过多机电性连接会增大整个系统的总电容和电感、老化板设计不良会产生噪声和串扰、而很差的引脚驱动器设计则会使快速信号沿所需的驱动电流大小受到限制等等，这些都仅是一部分影响速度的瓶颈，另外由于负载过大并存在阻抗、电路偏置以及保护元件值的选择等也会使老化的性能受到影响。