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X荧光镀层测厚仪
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110000
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江苏天瑞仪器股份有限公司
中国 昆山
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产品属性
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品牌
天瑞
型号
Thick800A
类型
合金元素分析仪器
测量范围
S-U
测量时间
40S
测量精度
0.01um
电源电压
220V
用途
测厚仪
加工定制
是
外形尺寸
500W×350D×140H mmmm
探测器
SDD探测器
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
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