JFD-2000是一台非接触式膜厚检测仪，采用光学干涉的原理检测膜厚。可以测量同时可测干膜和湿膜。检测范围为0.5微米-100微米。

一、仪器检测原理外部光路结构：

光从光源发出，经过光纤导到反射探头打出，聚焦在在样品上。薄膜上下表面都会产生反射光，如下图所示：

两种反射光由反射探头采集，并由另一根光纤导入到分光结构，进行光谱排列。测量出干涉条纹：测量谱图：通过光谱软件，将样品放置于检测位置，

可以得到反射率谱线，如下图所示：

再经过软件内部处理，得到干涉条纹的极大值和极小值。得到极值后再通过厚度公式，即可算出膜层厚度。

二、 仪器适用范围

l  湿膜厚度检测。
l  干膜、硬涂层厚度检测。
l  玻璃、塑料、凝胶、光刻胶、电介质厚度检测。
l  汽车工业中薄膜、光油、底漆厚度检测。
l  医疗设备中药囊、药品覆膜、包装薄膜厚度检测。
l  光伏产业中透明导电氧化膜、减反射膜厚度检测。
l  食品包装中卷式薄膜、液体隔离膜厚度检测。

三、 样品要求

1、 薄膜在200-1100nm内的某一波段可部分透光。
2、 薄膜厚度范围：0.5um-100um（不同厚度范围采用不同配置）。
3、 基底表面和薄膜表面平整光洁。

四、产品配置

l 主控制箱内部包含光源、光谱仪、运动系统控制器。

2、通过USB线与电脑连接。

  12V3A供电。

片状支架通过光纤与控制箱连接。

五、 仪器主要参数

六、 重复性、重现性数据报告

重复性说明：

样品不动，重复测量50次的厚度值。

重现性说明：

检测样品点不变，反复拿出样品和放入样品检测50次的厚度值。
 

七、仪器操作

检测操作，详见操作说明书和软件说明书。