电子元器件失效分析
失效分析是对已失效器件的事后检查，使用电学测试以及先进的物理、化学和金相分析技术验证失效现象，确定失效模式，找出失效机理。全面系统的失效分析可以确定失效的原因，对于器件设计、制造工艺、试验或应用的改进具有指导作用，采取相应的纠正措施消除失效模式或机理产生的原因，从而实现器件以及装备整体可靠性的提高。
电子元器件分析项目
① 形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线透视、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
② 成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱。
③ 电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。
④ 开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。
⑤ 缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。
试验标准：
GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序；
GJB450A 装备可靠性工作通用要求；
GJB841 故障报告、分析和纠正系统；
GJB536B-2011 电子元器件质量保证大纲；
QJ3065.5-98 元器件失效分析管理要求；
GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范；
GJB 65B-1999 有可靠性指标的电磁继电器总规范。
失效分析的对象
各种材料和零件（金属、塑料、陶瓷、玻璃等）；
电子元件（电阻、电容、电阻网络、电感、继电器、电连接器、接触器等）；
半导体分立器件（二极管、三极管、场效应管、可控硅、晶体振荡器、光电耦合器、二极管堆、IGBT等）；
机电类器件（继电器，机械开关、MEMS）；
线缆及接插件（航空连接器，各类型线缆）；
微处理器（51系列单片机，DSP，SOC等）；
可编程逻辑器件(GAL、PAL、 ECL 、FPGA、、CPLD、EPLD等)；
存储器(EPROM、SRAM、DRAM、MRAM、DDR、FLASH、NOR FLASH、NAND FLASH、FIFO等)；
AD/DA（DAC7611、MAX525、ADC0832、AD9750等）；
通用数字电路（CMOS 4000系列、54系列、80系列）；
模拟器件（运算放大器、电压比较器、跟随器系列、压控振荡器、采样保持器等）；
微波器件（倍频器、混频器、接收器、收发器、上变频器、压控振荡器、放大器、功分器、耦合器等）；
电源类（线性稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理、LED、PWM控制器、DC/DC等）。
设备能力
电性测试：LCR阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、ESD测试仪、探针台、半导体参数分析仪、高精度图示仪、可编程电源、电子负载、示波器、频谱分析仪、数字/模拟集成电路测试机台、电磁继电器测试系统。
形貌观察：体视显微镜、金相显微镜、X-RAY透射系统、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
制样设备：机械开封机、化学开封机、反应离子刻蚀机、研磨抛光机。
应力试验设备：高低温试验箱-热循环试验、热冲击试验箱-热冲击试验、振动台-机械振动试验、恒定加速度试验台-恒定加速度试验、可编程电源-电压、功率老炼试验、电子负载-电流、功率老炼、频率发生器-老炼试验、浪涌发生器-浪涌试验、高温真空箱。
广州广电计量检测股份有限公司（GRGT）定位行业高端，引领行业先锋，历经近50年的发展，目前成为一家技术精湛、服务精心、管理精细的一流的计量检测专业机构。
GRGT是原国家信息产业部军工电子602计量测试站，通过国家实验室（CNAS）、国防实验室（DILAC）和总装实验室认可，并通过中国计量认证（CMA），是中国CB实验室，建立企业计量最高标准80多项，通过CNAS、DILAC认可项目1000多项。
电子元器件失效分析业务代表：
李绍政（业务经理） 138-0884-0060（微信同号）
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