NTT-AT提供的X射线分辨率测试卡具有以下特点：
广泛应用于X射线显微镜、X射线光束分析、X射线成像等高分辨率领域；
辐射X射线持久稳定、锐度高、低毛刺；
SiC基膜的Ta测试卡具有成像清晰、精度高等特点；