电压降是衡量电子电器产品电气性能的重要指标。电压降影响接插件等电气设备的信号传输和电气连接的稳定性和可靠性，不良的电压降会造成很大的接触电阻，产生温升，影响电气设备的信号传输的电气连接的稳定性、可靠性和寿命，

通过测量电压降可验证电子电气设备产品的质量及设计的可靠性。所以国标GB、IEC、UL、VDE等各国安全检测标准都把验证电压降作为电气安全性能指标之一。

本公司的TIDAS电压降数据自动采集测试系统可自动采集电子电气设备电压降数据，供用户进行产品质量分析。

电压降自动数据自动采集系统外型同温度电流数据采集仪相同，内部结构不同。

按GB14048.7/IEC947-7-1规定，测量电压降时试验电流导线额定截面积规定的电流值的0.1倍。

试验前，所测电压降不得超过3.2mV，试验后，所测电压降不得超过试验前的测量值的150%。

配合本公司研制的加热箱，及多功能温升测试仪，可进行老化测试。

按国标标准GB14048.7规定，接插件要在加热箱内进行升温和降温的200次的温度循环试验，每次循环大约1小时，中间25次之后及200次温度循环之后要进行电压降测试。测试时不能出现电压降超过4.8mV或第25次循环后电压降的1.5倍的情况。对于非螺纹夹紧件端子，按IEC60998-2-2/GB13140.3-2008标准规定，要进行192个周期的循环温升试验，测试时同时进行电压降测试，不能出现电压降超过22.5mV或第24次循环后电压降的1.5倍的情况。