品牌:TI
型号:TPS73533DRVR
封装:QFN6
包装:3000
年份:1825+
产地:泰国
TPS73533DRVR
数量:750000
瑞利诚科技(深圳)有限公司
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备选器件推荐
TPS7A90 - TPS7A90 is 500mA, low noise (4.7uVrms) LDO in a small package (2.5 mm x 2.5mm)
TPS7A87 - 器件与被比较器件具有相似功能,但并不功能等效。 TPS7A87 is a dual-channel, low noise, 500mA LDO.
TPS745 - 器件与被比较器件具有相似功能,但并不功能等效。 TPS745 is a 500mA ADJUSTABLE output LDO with lower dropout, lower Iq and Wider Vin with power good.
描述
TPS735 低压降 (LDO)、低功耗线性稳压器可提供出色的交流性能以及极低的接地电流。可提供高电源抑制比 (PSRR)、低噪声、快速启动以及出色的线路和负载瞬态响应,同时消耗极低的 45µA(典型值)接地电流。
TPS735 器件与陶瓷电容器搭配使用时可保持稳定,并且该器件使用先进的 BiCMOS 制造工艺,能够在输出 500mA 电流时产生 280mV 的典型压降电压。TPS735 器件使用精密电压基准和反馈环路,可在全部负载、线路、过程和温度变化范围内实现 2% 的总体精度 (VOUT > 2.2V)。此器件的额定 TJ = –40°C 至 +125°C,采用薄型 3mm × 3mm SON-8 封装和 2mm × 2mm WSON-6 封装。
特性
输入电压:2.7V 至 6.5V
带 EN 引脚的 500mA 低压降稳压器
低 IQ: 45µA
提供了多个输出电压版本:
1.2V 至 4.3V 固定输出
1.25V 至 6V 可调输出
高 PSRR:1kHz 频率下为 68dB
低噪声:13.2µVRMS
快速启动时间:45µs
使用陶瓷 2.2µF 低 ESR 输出电容器实现稳定运行
出色的负载和线路瞬态响应
2% 的总体精度(负载、线路和温度,VOUT > 2.2V)
极低的压降:500mA 电流下为 280mV
2mm × 2mm WSON-6 和
3mm × 3mm SON-8 封装
描述
在tps735低压差(LDO)线性稳压器,提供优良的低功率AC性能和极低的地面电流。高功率供应能力比(PSRR),低噪声,快速启动和负载瞬态响应和优良的线是提供在非常低的消费45μA(典型的)地面电流。
一个装置是稳定的tps735陶瓷电容和使用先进的BiCMOS制造过程产量的典型的低压差电压(A 280 mV在500 mA输出。在tps735装置使用A精密电压参考和反馈回路实现的整体精度(2%(Vout>2.2 V)在所有负载,线路和温度的变化过程。这个装置是完全指定的TJ=+125℃到可能从提供的A和是低调的3毫米×3毫米,和一个8包2毫米×2毫米的波长6包。
特技
输入电压:2.7伏至6.5伏
500毫安低压差稳压器
低智商:45μA
多种输出电压版本可用:
1.2伏至4.3伏的固定输出
可调节输出从1.25 V到6 V
高PSRR:1 kHz的68分贝
低噪声:13.2伏VRMS
快速启动时间:45秒
稳定的陶瓷,2.2μF,Low ESR输出电容器
良好的负载和线路瞬态响应
2%整体精度(负载,线路,温度,VOUT>2.2 V)
非常低的辍学率:280毫伏在500毫安
2毫米×2毫米WSON-6
3毫米×3毫米SON-8封装所有标均为其各自所有者的财产。
TPS735 500毫安,Low Quiescent电流,Low Noise,高PSRR,
低压差线性稳压器
特征
1输入电压:2.7伏至6.5伏
500毫安低压差稳压器
低智商:45μA
多种输出电压版本可用:
- 1.2伏至4.3伏的固定输出
-可调节输出从1.25 V到6 V
•高PSRR:68分贝在1千赫
低噪声:13.2μVRMS
快速启动时间:45μs
稳定的陶瓷,2.2μF,Low ESR输出
电容器
良好的负载和线路瞬态响应
2%整体精度(负载,线路,和
温度,VOUT>2.2 V)
非常低的辍学率:280毫伏在500毫安
2毫米×2毫米WSON-6
3毫米×3毫米SON-8封装
描述
TPS735低压差(LDO),低功率线性
调节器具有极好的交流性能。
低接地电流。高电源抑制比
(PSRR)、低噪声、快速启动和优良线路
同时提供了负载瞬态响应。
消耗非常低的45μA(典型)接地电流。
TPS735器件采用陶瓷电容器稳定。
并采用先进的BiCMOS制造工艺
在500下产典型的280 mV的电压差。
MA输出。TPS735器件使用精度
电压基准与反馈环实现
在所有负载上的总精度为2%(VOUT>2.2 V);
线、过程和温度变化。这个装置
完全由TJ=40°C到+125°C指定,并且是
提供低剖面,3毫米×3毫米SON-8
包装和一个2毫米×2毫米的WSON-6封装。
基于JEDEC标准方法的热模拟导出了DRB、DCQ和DRV封装的热数据。
在JESD51系列中指定。在模拟中使用以下假设:
(a)I.DRB:暴露的焊盘通过2×2热通孔阵列连接到PCB接地层。
二。DRV:暴露的焊盘通过2×2热通孔阵列连接到PCB接地层。由于热的尺寸限制
PAD,0.8毫米间距阵列使用的是JEDEC标准。
(b)I. DRB:假定顶部和底部的铜层具有20%的铜的热导率,代表20%的铜。
新闻报道。
II DRV:假定顶部和底部的铜层具有20%的铜的热导率,代表20%的铜。
(c)这些数据仅在JEDEC高k(2S2P)板的中心产生,具有3×3×3英寸铜区。到
了解铜区对热性能的影响,看功耗和估算结温部分。
(3)在JEDEC标准,高k板,AS模拟下获得自然对流下的环境热阻结。
在JESD51-7中指定的,在JESD51-2A中描述的环境中。