本公司所有老化板均依据GB、GJB、MIL、JIS、IEC等有关标准设计生产，产品技术性能指标、工艺水平和质量等均达到国 内领先水平。 有些客户已经购买了试验设备（BURN-IN TEST SYSTEMS），如集成电路高温老化系统、分立器件老化系统、高温反偏 （HTRB）老化系统、电容高温老化系统、三端稳压器高温老化系统、DC/DC高温老化系统、二极管恒流老化系统等等。在日后使 用中发现从原厂设计、生产老化板，不但价格昂贵，而且加工周期长，根本无法满足产品迫切试验需要，给您的工作给带十分的麻 烦和困惑。本公司拥有各种试验设备标准接口，品种繁多的老化测试座，工艺质量保证供广大客户选择使用​

新安测控定制的老化板适合器件包含 ：

IC 
中小功率二极管、LED、光耦、稳压管、三极管、MOS管、IGBT、三端稳压器、晶闸管、桥堆 等器件 
二极管、LED、光耦、稳压管、三极管、MOS管、 IGBT、三端稳压器、晶闸管、桥堆等器件 
二极管、三极管、MOS管、IGBT、桥堆等器件 
电容器 
二极管、三极管、MOS管、IGBT、桥堆等器件 

集成电路老化板,正向寿命老化板,高温寿命老化板,
高温反偏老化板,电容器 高温老化板,高温高湿反偏老化板,

高气压高温高湿反偏老化板,htrb老化板,h3trb老化板等等

SOCKET转接板系列介绍

半导体元器件品种繁多，经常有新的封装器件需要进行老化测试，很多客户希望在原有的产品上进行配套试验，从而降低试 验成本。本公司可根据客户实际需求进行设计、加工各种SOCKET转接板，从而实现不同封装、不同结构的转换，最终满足客户 的试验需求，为客户大幅降低使用成本。

可根据客户需求定制所有老化板，完美兼容客户所有设备

十五年行业经验合作客户多为航天,军工,检测中心,以及上市公司,品质有保障。

上万种座子socket种类齐全设计各种封装类型。

老化板类型	适合器件	试验种类	PCB板	PCB基板适合工作条件
集成电路老化板	IC	集成电路高温动态老化试验 / IC Burn-in	FR5	-50℃ 〜180℃
正向寿命老化板	中小功率二极管、LED、光耦、稳压管、三极管、MOS管、IGBT、三端稳压器、晶闸管、桥堆 等器件	常温下：OPLIFE试验/稳态寿命试验/间歇寿命试验	FR4	-50℃ 〜130℃
高温寿命老化板	二极管、LED、光耦、稳压管、三极管、MOS管、 IGBT、三端稳压器、晶闸管、桥堆等器件	高温下：OPLIFE试验/稳态寿命试验/间歇寿命试验/HTOL	Polyimide	-60℃—240℃
高温反偏老化板	二极管、三极管、MOS管、IGBT、桥堆等器件	HTRB/HTGB试验	Polyimide	-60℃ 〜240℃
电容器 高温老化板	电容器	电容器高温耐久性老化试验	Polyimide	-60℃ 〜240℃
高温高湿反偏老化板	二极管、三极管、MOS管、IGBT、桥堆等器件	H3TRB试验	Polyimide	85℃  85%湿度
高气压高温高湿反偏老化板	二极管、三极管、MOS管桥堆等器件	HAST bias	Polyimide	130℃  90%湿度 2. 5个气压

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