Loresta - GX MCP - T 700低电阻率电阻率计
三菱化学Loresta-GX高精度四探针仪MCP-T700
MITSUBISHI MCP-370四点探针
金属薄膜，导电涂料，导电塑料等的表面和体积电阻率测量可以通过4探针法制备。只需将4探针探针压在样品上即可轻松测量，标准规格和选项。
MCP - T 700低电阻率电阻率计
Loresta AX MCP-T370简易低电阻率计
RORESTA-AX MCP-T370简易型低电阻率计
4探针法介绍机。便利型是过程管理的理想选择。
MCP - T370简化低电阻率计
UX MCP - HT 800高电阻率电阻率计
UX MCP - HT 800高电阻率电阻率计
通过恒压施加·双环法，可以测量纸和塑料薄膜等表面和抗静电材料的电压电阻率。
MCP - HT 800高电阻率电阻率计
电阻率自动测量系统大型测绘系统MCP-S620型·MCP-S521型
自动电阻率测量系统大型测绘系统MCP-S620·MCP-S521
MCP-T370 簡易型低抵抗率計
简易型低电阻率表（测量范围10
- 2至106Ω）
它是一种方便的电阻率计。 可以在线进行简单检查。
特点
通过专用的四探针探针，可以一次性高精度地测量各种材料的电阻率。
只需按下开始按钮，即可找到稳定值并自动加载[自动保持]功能以确认测量值。
采用镍氢电池可以驱动电池，更换电池组变得容易。
添加了探测检查模式。 使用探头检查器（另售），您可以轻松检查Loresta AX主机和探头的精度。
测量数据可以输出到USB存储器。
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标准规格
测量方法4端子4探针法
恒流应用方法
测量范围10-2至106Ω
标准设备在线4探针探针（ASP）AC适配器
可选探头
输入应用类型
ESP非均匀样品MCP-TP 08 P.
PSP小样品，用于薄膜的MCP-TP 06 P.
QP2 MCP-TPQP 2用于微量样品
MCP-TFP用于TFP硅晶圆或玻璃基板上的薄膜
