ALBATROSS-TT 是由德国Fraunhofer IOF研究所研发生产制造的，测量样品反射光，透射光，以及散射光分布的测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。

1.设备介绍：

1.1测试参数：角分辨散射（ARS）,双向反射分布（BRDF），双向透射分布（BTDF），透射（Transmittance），反射(Reflectance)及计算TIS（总散射）， 3D测量

1.2测试光源：以激光器作为测试光源，波长：532nm,405nm,640nm

1.3测试样品：被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件

1.4设备特点：

入射光与探测器可共面或异面

入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整

可对样品进行扫描，可测量三维空间中的散射分布

动态范围：13个数量级

ARS灵敏度： 

方便操作的测量及分析软件

1.5设备应用：

对光学器件表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析

产品质量检测

光学性能分析

粗糙度分析

1.6全封闭测量：集成在一个箱体里，可置于桌面。

1.7设备外形尺寸：

主体测量设备长宽高：800mm*780mm*775mm

电脑架子尺寸：820mm*840mm*971mm

1.8设备重量：约80Kg

2.技术指标：

2.1自动轴（极角，入射角）

角度分辨率：＜0.001°

角精度：＜0.02°（2D）, ≈0.1°（3D）

调整范围（可参考Fig.2）

极角：-270°—+270°

方位角:-90°—+90°

入射角:-90°—+90°

2.2样品调整范围

3个手动传动轴和3个手动旋转轴

调整范围： X,Y,Z:-12.5mm—+12.5mm

360°

        :±2.5°

2.3可测样品规格

最大重量：: 1kg 

最大尺寸: 200mm*100mm

2.4光源

532nm(2W Nd:YAG)  

405nm,laser diode

640nm,laser diode

软件控制选择不同的光源

2.5 偏振

光源: circular-,s-,p-polarized

探测器: none, s-,p-polarize

2.6 Interchangeable apertures: 0.2°to 2°(full aperture angle)0.2°到2°可变换

2.7 Corresponds to solid angles of ≈10-05sr and ≈10-03sr,respectively

2.8 最小测量角度:≈0.2°

2.9 测量重复性精度：优于5%

3.0 半球空间散射测量TIS测量精度：±2%

3.1 探测器动态范围）:＞13个数量级

3.2.RS灵敏度: ＜10-8sr-1

3.控制系统

  自动扫描控制，包含轴控制、校准及测量自动控制，自动生成数据并自动输出报告，输出ASCII,JPG等格式