音频调谐器，2频段，3 X 3 MM，ROHS符合性，QFN-20
品牌：SILICON
型号；SI4703-C19-GMR
封装：QFN40
包装：2500
年份：1847+
产地：KR
数量：12500
瑞利诚科技（深圳）有限公司
联系人：何小姐
TEL:13723714318
qq：3007215867
PCN详细信息
变更说明：
Silicon Laboratories，Inc（Silicon Labs）很高兴地宣布采用铜线作为
先进的Si4702 / 03-C19产品系列3x3mm QFN封装的引线键合材料
韩国半导体工程（ASEKR）。
ASEKR是Silicon Laboratories现有的装配站点，已通过ISO9001，ISO14001认证，
ISO / TS 16949，是索尼绿色合作伙伴。
供应商ASEKR（金线）ASEKR（铜线）SPIL Unisem
引线框架
半蚀刻，铜
C7025，Ring AgPlating
半蚀刻，铜
C7025，环形Ag电镀
蚀刻，EFTEC 64T
预镀
Cu C194，一半
蚀刻，Ring-Ag
电镀
Die Attach Hitachi EN4900GC日立EN4900GC住友1033BF Ablebond 8290
引线键合1.0密耳Au线0.9mil CuPd线1.0密耳Au线1.0密耳Au线
模子
复合住友EME-G700住友EME-G700住友EME-G770
住友EMEG7700HCD
铅涂层Sn 100（哑光锡）Sn 100（哑光锡）Sn 100（哑光锡）Sn 100（哑光锡）
改变的理由：
这种变化提供了相同的电气性能并最大限度地降低了成本增加的影响
来自黄金。
对形式，适合度，功能，质量，可靠性的影响：
对形状，配合，功能，质量或可靠性没有影响。
使用铜线作为粘合材料在ASEKR组装的器件与现有器件相同
产品形式，适合和功能。电路板布局或焊接无需更改
配置文件。这些器件符合所有相同的湿度敏感度等级（MSL）规格，并且是a
直接替换现有包裹。机械没有变化
规格或图纸。在适用的情况下，器件继续满足所有RoHS要求。
除非另有说明，否则Si4702 / 03-C19，TSMC制造，ASEKR组件
测试名称测试条件资格批次ID
或者开始
失败/通行证
或结束注释摘要状态
测试组A - 加速环境压力测试 - ASEKR
HAST
JA110 Q23521 0/78 1
130，85％RH 3批次，N => 25 Q23544 0/78 1批次
Vcc = 3.6V，96小时Q23548 0/78 1 0/234通过
温度循环
JA104 Q25083 0/80 1
条件C：-65至1503批，N => 25 Q23546 0/78 1
500循环Q23549 0/78 1
Q25083 0/80 1
Q25109 0/79 1 6手
Q25115 0/76 1 0/471通过
HTSL
JA103 Q23616 0/78 1
150，1000小时3批次，N => 25 Q23617 0/78 1批次
Q23618 0/78 1 0/234通过
A组测试 - 加速环境压力测试 - ASEKR - 铜线
HAST
JA110 Q29856 0/29 1
130，85％RH 3批次，N => 25 Q29848 0/30 1批次
Vcc = 5.5V，192小时Q29840 0/28 1 0/87通过
温度循环
JA104 Q29858 0/26 1
标准C：-65至1503批，N => 25 Q29850 0/26 1 3批次
2000次循环Q29842 0/26 1 0/78通过
HTSL
JA103 Q29857 0/28 1
150，2000小时3批，N => 25 Q29849 0/28 1 3批
Q29841 0/28 1 0/84通过
测试组A - 加速环境压力测试 - Unisem
HAST
JA110 Q24692 0/80 1
130，85％RH 3批次，N => 25 Q24774 0/80 1批次
Vcc = 3.6V，96小时Q24469 0/80 1 0/240通过
温度循环
JA104 Q24689 0/80 1
标准C：-65至1503批，N => 25 Q24772 0/80 1批
500次循环Q24470 0/80 1 0/240通过
HTSL
JA103 Q24554 0/80 1
150°C，1000小时3批次，N => 25 Q24714 0/80 1批次
Q24788 0/80 1 0/240通过
除非另有说明，否则Si4702 / 03-C19，TSMC制造，ASEKR组件
测试名称测试条件资格批次ID或
开始
失败/通行证
或结束注释摘要状态
测试组A - 加速环境压力测试 - SPIL
HAST
JA110 423506.1 0/25 1
130，85％RH 3批次，N => 25 423881.1 0/25 1批次
Vcc = 3.6V，96小时424560.1 0/25 1 0/75通过
温度循环
JA104 423506.1 0/25 1
Cond C：-65°C至150°C 3批，N => 25 423881.1 0/25 1 3批
500次循环424560.1 0/25 1 0/75通过
HTSL
JA103 423506.1 0/25 1
150，1000小时3批次，N => 25 423881.1 0/25 1批次
424560.1 0/25 1 0/75通过
测试组B - 加速寿命模拟测试
HTOL
JA108 Q24610 0/80
125°C，动态3批，N => 77 Q24973 0/125 3批
Vcc = 3.6V，1000小时Q25007 0/130 0/335通过
LTOL
JA108 Q24611 0/80
-10°C，动态1手，N => 32 1手
Vcc = 3.6V，1000小时0/80通过
ELFR
JA108 Q24555 0/501
125°C，动态3批，N => 500 Q24713 0/502
Vcc = 3.6V，1000小时Q24790 0/502
Q25008 0/502
Q25060 0/1003 6手
Q27432 0/993 3 0/4003通过
除非另有说明，否则Si4702 / 03-C19，TSMC制造，ASEKR组件
测试名称测试条件资格批次ID
或者开始
失败/通行证
或结束注释摘要状态
测试组E - 电气验证
ESD-HBM
JA114 Q24453 0/3±1kV
1手，N => 3 Q24454 0/3 2±2kV
通过
ESD-MM
JA115 Q25031 0/3±40V
1手，N => 3 Q24455 0/3 2±125V
通过
ESD-CDM
JC101 Q24452 0/3 ASEKR±750V
1批，N => 3 Q29422 0/3 ASEKR，Cu±1000V
Q28689 0/3 SPIL±1250V通过
闩锁
JESD78 Q24752 0/6 2 25C
±200mA 1批，N => 6 Q24753 0/6 2 85C
过压= 5.8V通过
