全自动比表面及孔径分析仪V-Sorb 2800

全自动比表面及孔径分析仪性能参数

测试功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,BJH总孔体积及孔径分析,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,CO2-冰水法微孔分析,t－plot图法外比表面积测定,样品真密度测定和平均粒径估算;

真空系统:集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分析的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命

测试模式:集成“单一氮气测试模式”和“氮气+氦气标准测试模式”于一体,供客户根据实际需要选择使用;采用“氮气+氦气标准测试模式”,符合国际标准,可确保结果的准确性和一致性,且操作简单;对于低温下可吸附氦气的样品,不适宜采用氦气测定自由空间,可通过采用“单一氮气测试模式”获得理想的测试结果.

标定气体:具备可选择使用He气(99.999%)进行冷自由空间体积标定的功能,不能仅仅只具备采用“氮气+空管”模式标定冷自由空间

测定范围:0.01(m2/g)--至无上限(比表面积);0.35nm-400nm(孔径)

测量精度:重复性误差小于1.5%

液位控制: V-Sorb液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因冷体积空间变化引入的测量误差.

数据采集:采用主流的数据采集存储系统和高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强.

样品数量:可以同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统必需相互独立,并且样品测试和样品脱气处理必需可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命

样品处理:样品处理的全过程通过软件来自动控制,包括温度、时间及真空泵启停,并且具备处理开始时间的预设功能,可实现夜间无人值守式测试和处理样品,大大提高工作效率.

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命.

压力测量:采用原装进口高精度硅薄膜电容式压力传感器测量压力,显著提高测试精度,配置2支压力传感器,压力传感器必须提供进口检测证书

压力精度:高精度进口硅薄膜电容式压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％

真空泵: 进口双极真空泵内置仪器中,可以通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停,从而延长真空泵的寿命.

液氮杯:采用进口4升大容量不锈钢内胆杜瓦瓶,经久耐用,不易破损,在无需增加保温盖的条件下可连续进行72小时测试,无需添加液氮,能完全满足孔径长时间测试需求

分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.995

极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等

测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)

数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.

全自动比表面及孔径分析仪产品特点

a)比表面及孔径分析仪独创的一体化集装式真空管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度;

b)比表面及孔径分析仪紧凑型集装式真空管路系统,可大大提高测试系统温度均匀性,减小死体积空间,从而提高测试精度;

c)比表面及孔径分析仪集装式真空管路系统,有利于抵抗外界温度变化等因素影响,有利于提高多次测量结果的一致性,提高重复精度;

d)比表面及孔径分析仪集装式真空管路系统,单个电磁阀和压力传感器可独立拆卸,有利于安装及后期维护.

e)比表面及孔径分析仪集成样品处理功能于测试软件中,可实现样品处理的完全自动化,并可灵活设置样品处理的时间,不同处理温度组合,样品处理延时等待等功能,可实现夜间进行样品自动化处理,提高测试效率.

f)比表面及孔径分析仪核心部件压力传感器,采用原装进口高精度硅薄膜电容式压力传感器,可实现通过软件自动调零点,消除传统压力传感器存在的零点漂移的困扰,确保压力测试的高精度和长期使用稳定性;

g)比表面及孔径分析仪模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换;
 
h)比表面及孔径分析仪采用可编程控制器电磁阀控制系统,模块化采集系统,集成度高,抗干扰能力强,升级及维护快速简便;(专利技术: 软著第0330201号)

i)比表面及孔径分析仪整个测试系统采用模块化结构设计,完全自动化的设计理念,配以功能完善的测试软件,可实现夜间无人值守式自动测试,大大提高测试效率.(专利技术: 软著第0330205号)

j)比表面及孔径分析仪自主开发的配套测试软件,功能全面,操作简单,界面人性化,详细的测试数据记录,完善的多种数据处理模型可选.(专利技术:软著第0330199号)

k)比表面及孔径分析仪配套测试软件采用先进Microsoft技术的.net软件开发平台开发,兼容性强,可自动兼容市面上所有的windows操作系统,并可自动兼容未来的新windows操作平台.(专利技术:软著第0330206号)