SIMV薄膜瑕疵缺陷检测系统应用背景
智能化膜瑕疵缺陷检测系统在当前大批量工业自动生产过程中应用较广,由于用人工检查产品质量效率过低且精度不高;和其他一些人工视觉检测难以满足要求的场合,表面瑕疵检测仪正在迅速取代人工视觉检测。
SIMV薄膜瑕疵缺陷检测系统的技术指标
1 | 测量精度 | 0.1mm以上的斑点、污点、孔洞等瑕
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2 | 适用宽度
| 按要求定制
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3 | CCD数量
| 依被测物宽度及检测精度决定
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4 | 用途 | 检测常见的瑕疵,对瑕疵缺陷信息进行处理,实时提供瑕疵的位置、大小,以及记录供用户参考核对
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5 | 方式 | 系统可设置瑕疵报警的参数,用户可根据生产要求设置报警线,实现声光报警并对不合格位置在线做标记 |
SIMV薄膜瑕疵缺陷检测系统检测原理叙述:
SIMV薄膜瑕疵缺陷检测系统是针对透光率高的薄膜材料,系统采用透射的打光检测方式进行检测,即光源在薄膜的下方,相机在薄膜的上方进行图像拍摄(对于不透明的材料则采用反射的打光方式,即光源与相机在所要检测面的同一侧)。
产线运行时,系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测,系统将相机采集到的图像通过SIMV图像分析软件进行瑕疵处理,由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异,从而使得系统能够发现瑕疵,并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。
另外,SIMV薄膜瑕疵缺陷检测系统可以实现24小时不间断进行检测、识别和分类显示各种薄膜表面缺陷,对任何高速和宽度的生产线都可以100%地实现实时在线检测。操作人员可以即时观测到缺陷的图象,并可根据系统准确提供的缺陷位置信息,在后续生产过程中实时进行剪切或修复缺陷等措施。
SIMV薄膜瑕疵缺陷检测系统现场应用:
联系方式: