【扫描电子显微镜/X射线能谱仪（SEM/EDS）人人实验】价格_厂家

所在地

北京

服务内容

分析测试

仪器品牌

日立

仪器型号

S-4800

二次电子分辨率

1.0nm15 kV; 2.0 nm1 kV

背散射电子分辨率

3.0 nm15 kV

加速电压

0.5~30 kV（0.1 kV/步，可变）

其他描述

设备简介

技术指标：二次电子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)背散射电子分辨率:3.0 nm(15 kV)电子枪:冷场发射电子源加速电压:0.5~30 kV（0.1 kV/步，可变）放大倍率:×30 ~ ×800,000。X射线能谱仪的元素分析范围为Be4~U92。仪器用途：用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析，主要用途如下：金属、陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察；材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定；金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定；纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察和分析；进行材料表面微区成分的定性和定量分析。

Hiseq2000高通量测序仪人人实验

￥面议

FEI Thermo Fisher扫描电子显微镜能谱检验检测人人实验

￥面议

频谱分析仪及软件E4440A检验检测人人实验

￥面议

ABI3500系列DNA测序仪基因分析仪人人实验

￥面议

布鲁克傅里叶变换红外光谱仪人人实验

￥面议

安捷伦网络分析仪AgilentE5071C人人实验

￥面议