日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪,有着快速、无损、非接触,高效率,适用范围,用于电子元器件,半导体,PCB,LED,电镀,五金,首饰饰品等多个行业表面镀层厚度的测量。日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪是以上众多行业客户信奈的产品,日立拥有X射线荧光镀层测厚仪几十年的设计生产经验,技术是众多X射线荧光镀层测厚仪生产厂商的顶端。拥有深厚的基础功底及经验,所生产的X射线荧光镀层测厚仪品质得到众多用户的认可。我们作为日立仪器设备的代理商,提供销售和售后服务等相关技术服务,提供正品原装配件。为确保客户生产效率的高效,我公司提供全天24小时服务。
日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪主要特点1.测量元素范围:钛Ti22---铀U92;
2.测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;
3.测量精度高、稳定性好,测量结果精确至μin;
4.快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;
5.可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;
6.进行贵金属检测,如Au karat评价;
7.材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;
8.强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图;
9.结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等;
10.测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍;
11.激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦;
12.拥有NIST认证的标准片;
提供销售、售后安装,技术培训等相关服务及技术支持。
日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪测量精度:
1.膜厚≤20μin时,测量误差值为:第一层(最上层)±1μin,第二层±2μin,第二层±3μin
2.膜厚>20μin时,测量误差值为:第一层(最上层)±5%,第二层±10%,第二层±15%
日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪参数介绍X射线激发系统:
垂直下照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:W靶
功率:50W(50kV,1.0mA)
日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪拥有三种不同测款型:
固定台:
Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制,样品台高度固定,测量最大样品高度33mm,仪器外形尺寸(宽×深×高):407×770×305mm加深式样品台:
Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制,样品仓抽屉式设计,4个位置上下可调,每格高度25.4mm,最大样品高度160mm,样品仓内部尺寸(宽×深×高):279×508×152mm,仪器外形尺寸(宽×深×高):407×770×400mm
自定义样品台:
依据客户要求提供更高的样品台,满足高度大于160mm的样品测量,仓内抽屉式设计,多个位置上下可调,每格高度25.4mm
全自动样品台:
Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴自动控制,样品台移动行程:178×178mm,样品台尺寸:宽610×深560mm,最大样品高度33mm,仪器外形尺寸:宽610×深1037×高375mm
日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪单准直器组件:
多准直器自动控制组件:日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪最多可同时装配6种规格的准直器;圆形、矩形多种规格尺寸任选(红色常用)
圆形 | mil | 4 | 6 | 8 | 12 | 13 | 20 |
mm | 0.102 | 0.152 | 0.203 | 0.305 | 0.33 | 0.508 |
矩形 | mil | 1x2 | 2x2 | 0.5x10 | 1x10 | 2x10 | 4x16 |
mm | 0.025x0.05 | 0.05x0.05 | 0.013x0.254 | 0.254x0.254 | 0.051x0.254 | 0.102x0.406 |
我公司的品质服务:
我公司在中国有目前有两家办公地点,深圳市和吉安市,两个办公地点均提供日立镀层测厚仪销售和售后维修服务,同事我们的相关技术人员都是接受日立中国总部的正规培训,技能全面且可靠,能为国内客户提供24销售上门服务,让用户日立镀层测厚仪正常运行,为用户的产品品控保驾护航。
我们公司所销售的日立镀层测厚仪均支持一年品质保险,非人为因素破坏及自然灾难(火灾、地震等)导致仪器出现故障,我公司提供免费维修。我们是品质企业,提供品质服务。