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Fluke Ti400 红外热像仪
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详细技术指标
温度
温度测量范围（-10°C 以下未校准） -20 °C 至 +1200 °C
（-4 °F 至 +2192 °F）
精度 ± 2 °C 或 2 %（25 °C 时，取读数较大值）
屏显发射率校正 是（根据数字和表格）
屏显反射背景温度补偿 有
屏显传输校正 有
成像性能
图像捕捉频率刷新率：9 Hz 或 60 Hz（取决于型号）
探测器类型320 x 240 像素焦平面阵列，非致冷型微测辐射热计
回收MS2711A，}回收LCR电桥、阻抗分析仪回收HP4263B、回收Agilent4338B、回收HP4192B、回收HP4192A、回收HP4278A、回收HP4291B、回收HP4291A、回收HP4288A，回收E4991A、回收HP42841A，回收HP4286A、回收E4981A、回收Agilent 4285A，回收HP4284A、回收E4980A、回收E4916A、E4982A、回收Agilent4287A、回收Agilent4294A回收（安捷伦）信号发生器/信号源回收E4421A，回收E4421B，回收E4422A，回收E4422B，回收E4423B，回收E4424B，回收E4425B，回收E4426B，回收E4428B，回收E4431B，回收E4432A，回收E4432B，回收E4433A，回收E4433B，回收E4436A，回收E4437B，回收E4438B，回收E4438C，
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