(二手销售/回收/租赁))Sinton少子寿命测试仪(二手销售Sinton WCT-120少子寿命测试仪/回收Sinton WCT-120少子寿命测试仪/租赁Sinton WCT-120少子寿命测试仪)
Sinton WCT-120少子寿命测试仪
Sinton少子寿命测试仪简介:
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术,包括类似平稳状态photoconductance (QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况。WCT一个高度被看待的研究和过程工具。QSSPC终身测量也产生含蓄的打开电路电压(对照明)曲线,与最后的I-V曲线是可比较的在一个太阳能电池过程的每个阶段。
Sinton WCT-120少子寿命测试仪性能参数:
1. 测量原理 QSSPC(准稳态光电导)
2. 少子寿命测量范围 100 ns-10 ms
3. 测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析
4. 电阻率测量范围 3–600 (undoped) Ohms/sq.
5. 注入范围:1013-1016cm-3
6. 感测器范围 直径40-mm
7. 测量样品规格 标准直径: 40–210 mm (或更小尺寸)
8. 硅片厚度范围 10–2000 μm
9. 外界环境温度 20°C–25°C
10. 功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器:200W 光源:60W
11. 通用电源电压 100–240 VAC 50/60 Hz
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服务众多光伏用户:
江苏,上海,北京,浙江,西安,四川,河北,河南等地的硅料生产企业及半导体光伏拉晶企业等等。
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WCT-120少子寿命测试仪主要特点:
适应低电阻率样片的测试需要,最小样品电阻率可达0.1ohmcm
全自动操作及数据处理
对太阳能级硅片,测试前一般不需钝化处理
能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭
可以选择测试样品上任意位置
能提供专利的表面化学钝化处理方法
对各道工序的样品均可进行质量监控:
硅棒、切片的出厂、进厂检查
扩散后的硅片
表面镀膜后的硅片以及成品电池