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经过多年的努力，武汉佰力博科技已经在材料物理性能表征测量领域成功积累了丰富的测量经验，为了更方便的研究高低温条件下材料的介电性能，我公司携手国内知名院校联合开发出高温介电测量系统-介电温谱测量系统-介电测量介电综合测量系统。
高温介电测量系统可用于分析宽频、高低温条件下被测样品的阻抗Z，电抗X，导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分测量样品随温度、频率变化的曲线。通过PST-Dconstant软件将这些变化曲线的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、cole-cole图等集成一体并进行分析进行分析测量，高温介电测量系统-介电温谱测量系统-介电测量的频率从20Hz--30MHz,测量的温度从室温--1000℃。
目前高温介电测量系统-介电温谱测量系统-介电测量可广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。
高温介电测量系统特点：
1、高温实现从室温到1000℃，升温斜率:2℃/min,控温精度:±1℃；
2、测量频率从20Hz-30MHz,测量精度0.05%；
3、高温介电测量系统采用铂金电极和引线,高温样品杆1000℃不氧化；
4、高温介电测量系统采用平行板电容器设计原理，样品放置位置灵活，可快捷安装和拆卸；
5、高温介电测量系统采用特殊设计处理和软件补偿，解决了因测量导线过长造成的测量误差等问题；
6、高温介电测量系统采用进口可控硅和PID精确控温，发热功率800W；
7、样品杆采用特殊设计，样品损坏率低，并能与电极保持良好接触。
8、样品和样品杆之间经特殊设计及加工，绝缘性能优良，解决了在高温条件下样品和样品杆之间绝缘难的问题；
9、系统阻抗分析仪可以配置英国WK精密阻抗分析仪，可以配置Agilent4294A或E4980A；
10、中文软件操作界面，菜单便捷，使用方便；
11、丰富多样的曲线图输出，软件可提供温度谱、偏压谱、阻抗谱、频率谱、时间谱、介电谱、Cole-Cole图，可在多窗口之间方便切换；
12、一次扫描最多可达1600个点，具有线性和对数扫描；
13、提供-40V至+40V的直流偏置电压，可以测量样品C-V曲线；
14、数据可通过主机USB接口直接存储，也可通过GPIB接口和软件进行存储。
15、提供二年内免费功能升级的超值服务；
16、高温介电测量系统-介电温谱测量系统-介电测量还可以扩展测量样品在变温条件下的I-V曲线、电阻率测量、热释电、磁电容等测量功能；
高温介电测量系统技术指标：
测量仪器
精密阻抗分析仪WK6500B系列（系统配套推荐）
测量频率 ：20Hz—120MHz(常温)；20Hz—10MHz（变温）
测量温度 ：室温—1000°C
测量功能 ：频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、cole-cole图
阻抗测量
测量参数 ：
Capacitance 电容(C)：0.01PF～1F ；Inductance电感 (L)：0.1nH～100KH
Resistance 电阻(R)： 0.01 mΩ～2G Ω ；Reactance电抗 (X)： 0.01 mΩ～2G Ω
Conductance 电导(G)：0.01ns～1000S ；Susceptance电纳 (B)：0.01ns～1000S
Impedance 阻抗(Z)：0.01 mΩ～2G Ω ；Admittance Y参数 (Y)：0.01ns～1000S
Phase Angle 相位角(Ø)：-90°～+90°
等效电路 ：串联或并联
AC电平 ：10 mV to 1V rms；200 µA to 20 mA rms
直流偏压 ：100 mA 直流偏流（D1选件）；±40 V直流偏流（D2选件）
测量精度 ：0.05%
消耗因数(Dissipation factor) : ±0.0005 (1+D2)；品质因数(Quality factor): ±0.05 %( Q+1/Q)
电容/电感/阻抗: ±0.05%
操作模式
绘图扫描模式 ：允许绘制和扫描两种测量参数。扫描参数——频率，水平驱动或者是直流偏压；仪表模式 ：可以作为标准的 LCR 表使用设定组织数据,每个模式都有 20 组数据可以存储在仪器内。
电容保护功能 ：提供内置充电电容保护装置，防止仪器被电容损坏，具有高压倒灌保护装置
波形处理 ：峰值搜索和局部分析曲线放大分析功能
测量速度 ：测量速度快20s
数据处理 ：测量波形数据自动转换成CSV、BMP文件格式
扫描显示 ：50、100、200、400、800、1600
测量夹具 ：多种夹具可供客户选择；也可以为客户定制
仪器外观 ：长750mm(7.5")； 宽660mm(17.37")，高360mm(20.5")；重30Kg(32 lb)
通讯接口 ：USB、screen shot、LAN、VGA及GPIB接口
高温介电测量装置
测量温度 ：室温-1000℃
升温时间 ：室温-700°升温时间为20分钟，室温-1000°升温时间为40分钟，
升温斜率 ：2℃/min
控温精度 ：±1℃
控温方式 ：采用PID精确控温
高温样品杆 ：耐高温、1000°不氧化、电极阻抗低、绝缘好
测试方法 ：两线法和四线法
绝缘材料 ：氧化铝陶瓷绝缘，特殊模具加工
高温炉尺寸 ：650mm(L)*430mm(W)*690mm(D)
重 量 ：20Kg
BLB-Dconstant高温介电测量系统分析软件
BLB-Dconstant高温介电测量分析软件采用Labview语言平台开发，通过与阻抗分析仪的完美结合，提供比阻抗分析仪本身更丰富的测量功能，实现高温谱（参数-T）、频率谱（参数-f）、时间谱（参数-t）、阻抗谱（Z-f-T）、介电谱（ε-T-f）、偏压谱(C-V)、Cole-Cole图等多种扫描曲线，数据输出格式为CSV格式，可进行更详细的数据分析和处理操作。
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