COULOSCOPE CMS2 系列仪器通过电解退镀方式测量镀层厚度。还可使用库仑法测定任何类型底材上的多镀层厚度。CSM2 STEP 版本可对单种镀层进行标准的STEP测试，以检测电位差（如多层镍涂层的质量控制）。
特性：
● 使用准确性高的电解退镀技术（库仑法），地测量多镀层的厚度
● 图形显示的交互方式，易于操作
● 适用性广泛：可测量金属和非金属底材上的镀层厚度，也适合测量多镀层厚度
● 提供全面的附件产品供您选择，可满足特定需求
应用：
● 金属和非金属底材上任何类型的金属镀层
● 单层或多层的镀层厚度测量
● 特别适用于通过 STEP 测试进行多层镍测量
● 适用于 0.05 µm 至 40 µm 的镀层厚度测量
