XTD-200镀层测厚仪，专业表面处理检测解决方案提供者
XTD-200测厚仪，专业表面处理检测解决方案：
XTD-200测厚仪，专用于检测各种异形件，特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。
仪器优点：
1. 分析精度极高
2. 分析范围广泛
3. 微区精准定位
4. 操作简单快捷
5. 结果可靠精准
6. 领先行业标准
XYZ高精密移动装置：快速精准定位，手/自动（可选），自动版可实现编程定位多点自动测试。
软、硬件双向操作：人性化设计，实现软件，硬件双向快捷操作。
变焦+对焦：配备高敏感镜头，实现无感对焦，可测各种异形件、超大工件。
性能优势：
1.先进的EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可精准测量。
2.上照式设计：实现可对超大工件进行快、准、稳高效率测量。
3.自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦。
4.变焦装置算法：可对最大90mm深度的凹槽高低落差件直接检测。
5.小面积测量：最小测量面积0.002mm²
6.大行程移动平台：手动XY滑台100*150mm，自动XY平台200*200mm.
结构设计：
我公司研制的测厚仪独特的光路交换装置，让X射线和可见光摄像同一垂直线，达到视觉与测试定位一体，且X光扩散度极小；与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能，实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试；高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍，可以减少弧度倾斜放样带来的误差，同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。
独创EFP算法：
采用Fp算法的后一代全新核心算法--理论Alpha系数法，基于荧光X射线激发的基本原理，从理论上计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线的荧光强度，在基于此计算Lachance综合校正系数，然后使用这些理论a系数去校正元素间的吸收增强效应。
只需少数标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属以及有机物层。
仪器型号对比：
