IM7587日本日置HIOKI阻抗分析仪

IM7587日本日置HIOKI阻抗分析仪

IM7587日本日置HIOKI阻抗分析仪​

可信赖的机型3GHz

● 测试电压测量频率：1MHz~3GHz
● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
● 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小
● 丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。

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阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能

能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量

IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。

阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。

阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列：SPOT判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，最多进行16点的判定。

阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能

使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。

阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能

使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。

阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法

测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N・m）。
请注意不要拧过头。

​基本参数（精度保证时间1年，调整后精度保证时间1年）

测量模式测量参数精度保证范围显示范围基本精度测量频率测量信号电平输出阻抗显示测量时间功能接口电源体积和重量附件

LCR (LCR测量),分析仪 (扫频测量), 连续测量

Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q

100 mΩ~5 kΩ

Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)

Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°

1 MHz〜3 GHz (设置分辨率100 kHz)

功率 (dBm)模式： -40.0 dBm~ +1.0 dBm 电压(V) 模式: 4 mV~502 mVrms 电流(I) 模式: 0.09 mA~10.04 mArms

50 Ω (10 MHz时)

彩色TFT 8.4英寸, 触摸屏

最快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值）

接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿

EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件)

AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max

主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g

测试头×1, 连接线×1, 使用说明书×1, CD-R (通讯说明书) ×1, 电源线×1

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