一、原装正品镀层日立膜厚仪产品简介：

    X-Strata920日立膜厚仪X射线荧光膜厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点可达0.025*0.051毫米。

  X-Strata920日立膜厚仪可采用开槽式样品室，它可提供三种规格的样品台供用户选用，风别为：

1、标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制；

2、加深台：可调高度型标准样品台，XY轴手动控制、Z轴自动控制；

3、程控样品台：XYZ轴自动控制。

  X-Strata920日立膜厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows7中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对X-Strata920主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定，可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求，如在分析报中插入数据图表，测定位置的图像、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析等多种数据分析模式。具体可以像我司业务员了解。

二、原装正品镀层日立膜厚仪测量原理：

   物质经过X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态，从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必须将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来，荧光X射线镀层厚度测量或成份分析仪的原理就是测量这释放出来的荧光能量及强度来进行定性和定量分析。

三、原装正品镀层日立膜厚仪测量方法：

   镀层厚度的测量可分为标准曲线法和FP法（基本参数法）2种。标准曲线法是测量已知厚度或组成的标准样品根据荧光X射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线，之后以此标准曲线来测量示知样品，以得到镀层厚度或组成比率。

   FP法即是Fundamental Parameter Method的简称。即基本参数法。

   采用FP法，只需要比标准曲线法更少的标准样品，就能简单迅速的得到测量结果，如果样品均匀，所使用分析线的强度就可用样品的成份和基本参数的函数来表示。换句话说，从任意组成的样品所产生的分析线强度，都可以从这基本参数来计算出，所以我们称这种方法为基本参数法。