LANGER EMV-Technik为德国近场探棒(Near Field Probe)制造公司。它针对现代电子产品愈做愈精细，同时开发出直径2mm的近场探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高办识率；为现在修改(Debug)产品，提供一个很好的解决工具。

修改测试可用於产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。

修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。

所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定辐射源的位置和辐射强度，从而找出辐射大的零件或电路。

ICI L-EFT磁场源将快速瞬变脉冲通过磁场耦合到集成电路中（开放式芯片），因此可以选择性地对集成电路的某个区域进行抗干扰性测试。对于安全关键电路，还可以进行模拟旁路通道干扰。该探头具备以下特点： · 分辨率高达500微米，因此可以对电路中的某一部分有针对性地进行测试。 · 脉冲抖动的触发值极低，因此也能对程序进程中的快速过程有针对性地施加影响。 使用该探头需要一台电脑。通过附带的ICI-Client客户端软件或者DLL控制操作ICI 探头。​