苏州相位差测量仪基本介绍

PLM系列是一款高精度相位差轴角度测试仪，设备通常主要运用于偏光片，补偿膜，离型膜，盖板玻璃和双折射材料的测量中。该设备可解析多层相位差，测试项目有：波长分散性，三次元折射率，相位差R0/Rth,吸收轴角度，偏光轴角度，透过率，色度，偏光度，快轴慢轴角度。

苏州相位差测量仪产品优势 

1、快速测试吸收轴角度；2、采用高感度探测器，可清晰识别吸收轴角度；3、采用进口高精度转台，可实现**测量；4、已通过中国计量用标准片数据匹配 5、傅里叶变换解析偏振光，数据可靠稳定 6、可溯源性：可提供计量检测报告 7、专业性：光学博士团队合力研发，追求国产替代 8、精心打造的每一台设备出货前都会用国家计量标准片进行检验

苏州相位差测量仪测试规格 

测试对象：偏光片/光学膜 测试项目：吸收轴角度 注：测试可选择高精度模式和普通模式 整机尺寸：根据客户样品尺寸定制 对应样品尺寸：可定制 测试光斑：约5mm 轴角度测量范围：0°~180° 重复性精度：3σ≤±0.05° 测量波段：单波段550nm（可选配）

苏州相位差测量仪选配项目 

透过率:单体透过率、平行透过率、直交透过率 偏光度 另外可升级多波段测试，追加色度功能