回收 HIOKI/日置3504-50/40/60 LCR测试仪
1.产品简介
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
● 高速测量2ms
● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
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2.技术规格
测量参数 | Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ） |
测量范围 | C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000 |
基本精度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数 |
测量频率 | 120Hz, 1kHz |
测量信号电平 | 恒压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz) |
输出电阻 | 5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时） |
显示 | 发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定） |
测量时间 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
功能 | BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外) |
电源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA |
体积及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
附件 | 电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1 |
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| SMD测试治具9699
用于底部有电极的SMD DC~120MHz， 测试样品 尺寸： 宽1.0~4.0mm， 高1.5mm以下 |
| SMD测试治具9677
用于侧面有电极的SMD DC~120MHz， 测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm |
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| SMD测试治具9263
直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm |
| 测试治具9262
DC～8 MHz, 直接连接型
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| | 测试治具9261
电缆连接型, DC ～ 5 MHz, 1m长
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| 镊形探头L2001
线长73cm，DC～8MHz，50Ω， 前端电极间隔：0.3～6mm (IM9901:JIS尺寸1608～5750) （IM9902：JIS尺寸0603～5750） |
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| 4端子测试探头 9140
DC～100kHz, 1m长
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回收 HIOKI/日置3504-50/40/60 LCR测试仪
