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日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪，有着快速、无损、非接触，高效率，适用范围，用于电子元器件，半导体，PCB，LED，电镀，五金，首饰饰品等多个行业表面镀层厚度的测量。日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪是以上众多行业客户信奈的产品，日立拥有X射线荧光镀层测厚仪几十年的设计生产经验，技术是众多X射线荧光镀层测厚仪生产厂商的顶端。拥有深厚的基础功底及经验，所生产的X射线荧光镀层测厚仪品质得到众多用户的认可。我们作为日立仪器设备的代理商，提供销售和售后服务等相关技术服务，提供原装配件。为确保客户生产效率的高效，我公司提供全天24小时服务。

1.测量元素范围：钛Ti22---铀U92；

2.测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；

3.测量精度高、稳定性好，测量结果至μin；

4.快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；

5.可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；

6.进行贵金属检测，如Au karat评价；

7.材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；

8.强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；

9.结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；

10.测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；

11.激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；

12.拥有NIST认证的标准片；

提供销售、售后安装，技术培训等相关服务及技术支持。

日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪测量精度： 
1.膜厚≤20μin时，测量误差值为：最上层±1μin，第二层±2μin，第二层±3μin
2.膜厚＞20μin时，测量误差值为：最上层±5%，第二层±10%，第二层±15%

X射线激发系统:

垂直下照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：W靶

功率：50W(50kV，1.0mA)

日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪拥有三种不同测款型：

固定台：

Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制,样品台高度固定，测量最大样品高度33mm

仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×305mm加深式样品台：

Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制，样品仓抽屉式设计，4个位置上下可调，每格高度25.4mm，最大样品高度160mm

样品仓内部尺寸（宽×深×高）：279×508×152mm

仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×400mm

自定义样品台：

依据客户要求提供更高的样品台，满足高度大于160mm的样品测量，仓内抽屉式设计，多个位置上下可调，每格高度25.4mm

全自动样品台：

Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴自动控制

样品台移动行程：178×178mm

样品台尺寸：宽610×深560mm，最大样品高度33mm

仪器外形尺寸：宽610×深1037×高375mm

日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪单准直器组件:

多准直器自动控制组件：日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪最多可同时装配6种规格的准直器；圆形、矩形多种规格尺寸任选（红色常用）

圆形：0.102 、0.152 、0.203 、0.305 、0.33 、0.508

矩形：0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.102x0.406

我公司的品质服务：

我公司在中国有目前有两家办公地点，深圳市和吉安市，两个办公地点均提供日立镀层测厚仪销售和售后维修服务，同事我们的相关技术人员都是接受日立中国总部的正规培训，技能全面且可靠，能为国内客户提供24销售上门服务，让用户日立镀层测厚仪正常运行，为用户的产品品控保驾护航。

我们公司所销售的日立镀层测厚仪均支持一年品质保险，非人为因素破坏及自然灾难（火灾、地震等）导致仪器出现故障，我公司提供免费维修。我们是品质企业，提供品质服务。